X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属.pdfVIP

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2018-02-24 发布于河南
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X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属

12 2 Vol. 12 No . 2 1999 6 SHANDONG SCIENCE Jun. 1999 X 1 1 2 3 3 林玉斌李建义桑杰时军波王磊 ( 1 , 25001 ; 2 , 25001 ; 3 , 25001 ) : X , AsCrCuPb Zn, 0009% 0008% 0012% 000 % 0001 % , :X ; ; : O6573 , , , [ 1] , , , X , , , , , [ 2, 3] , X , , , 1 11 111 仪器 X ( 3080E2 ) , 112 工作条件 X 50kV, 50 mA, 1 1 2 As- K F LiF200SC 7~ 35 3 . 000 1 Cr- K1 F LiF200SC 7~ 35 69. 9 5 Cu- K1 F LiF200SC 7~ 35 5. 035 Pb- L1 F LiF200SC 7~ 35 28. 2 0 Zn- K1 F LiF200SC 7~ 35 1. 805 : 1999_02_02 : ( 1968 ) , , 2 : X 21 12 [ 1] , 100 100 , , 30 t , 30mm , 13 GSD9- 12 ( ) , X ( 1) , a, b, c . 2 X = aI + bI + C ( 1) i i i :X i ; I i X i i ; a, b, c , ( 2) X W = X ( 1+ A F ) (2) i i ij j : Wi i ( i ) ; A ijj i ; Fj ( X ) [ 3, ] 2 21 2, , 2 ( : mg kg) As Cr Cu Pb Zn