铁矿石硅钙锰铝钛镁磷硫和钾的测定——波长色散X射线.PDFVIP

维普资讯 第 15卷 标 准 化 报 遭 4o1l5 REPORTING OF STANDARDIZATION № ． 6 1994 第 6期 · 国外标准摘译 · 铁矿石 硅、钙、锰、铝、钛、镁、磷、 硫和钾的测定——波长色散 X射线荧光光谱法 IS09516：1992(E) 1 范 围 研究采用最新标准的可行性 。IEC和 ISO成 本国际标准规定了用波长色散 x一射线 员不断地收集现行有效的国际标准。 荧光光谱法测定铁矿石中硅、钙、锰、铝、钛、 ISO 3081：1986 铁矿石——采取 份 镁、磷 硫和钾含量的方法 采用损失校正基 样——手工法 体系数时，该方法适用于测定高烧失量的铁 ISO 3082：1987 铁矿石 一 采取份 矿石 。 样和样品制备——机械法。 该方法适用于表 1中给出的待测定的每 1SO 3083：1986 铁矿石 一 样 品制 种组分元素的浓度范围的各种矿物学类型的 备—— 手工法。 铁矿石。 ISO 7764：1985 铁矿石—— 化学分 表 1——本方法的适用范围 析用预干燥试样的制备 。 元 素 浓度范 围． (m／m) 3 原理 Fe 30～ 72 铁矿石试样与硼酸盐混合后，采用浇铸 Ca 0 00 ～ 15 法制备x一射线荧光测量用玻璃熔片。制各 A 【 0 02～ j 玻璃熔片可采用下述两种方法：一种方法是 M g 用硼酸锂作熔剂 ：另一种方法是用硼酸钠作 S 0．0i～ 1 熔剂。这两种方法可任选其一。 0．05～ 15 x射线荧光分析原理是基于每一分析元 Mn 0．005～ 3 素均具有特征谱线。分析时不必测定每一玻 TL 0．005～ 5 璃熔片的背景，但在谱线位置应测定几个空 P 0 003～ 5 白玻璃熔片。 K 0 003～ 1 校准使用纯化学试剂，测定结果在对元 *酵另有说明外．系指参考值和校正值。 素间的影响进行基体校正后得 出。 2 B1用标准 4 试剂和材料 本国际标准的某些条款引用下列标准的 分析过程 中，只能使用公认的分析级试 相应条款 ，标准出版时即生效 所有标准需经 剂 。 修订．按照本国际标准的协议鼓励各成员国 注 1：对灼烧过的试剂t应在干燥器 中冷却 并尽快称 量 。 维普资讯 注 24．2、4．44．54．74．8和4．9中所述试剂，仅用 将氧化镁在 1000C妁烧 1h，并在干燥器 于触备合