SPC推广教材-计数型控制图.pptVIP

SPC(Statistical Process Control)统计过程控制 主要内容 控制图类型 使用控制图的准备 1、建立适合于实施的环境 a 排除阻碍人员公正的因素 b 提供相应的资源 c 管理者支持 2、定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。 3、确定待控制的特性 应考虑到： 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 接上页 4、确定测量系统 a 规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 5、使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。 计数型控制图适用场合 P控制图。用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数值质量指标的场合。注意：在根据多种检查项目综合起来确定不合格品率的情况，当控制图显示异常后难以找出异常的原因。因此使用P图时应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据。主要用于控制不合格品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。 np控制图。用于控制对象为不合格品数的场合。设n为样本大小，P为不合格品率，则np为不合格品个数，取np为不合格品数控制图的简记记号。np图用于样本大小相同的场合。 计数型控制图适用场合 C控制图。用于控制一部机器，一个部件，一定的长度，一定的面积或任何一定的单位中所出现的缺陷数目。C图用于样本大小相等的场合。如涂装车间机盖上的脏点数，可用C图。 U控制图。当样品的大小变化时，应将一定单位中出现的缺陷数换算为平均单位缺陷数后用U控制图。例如，在制造厚度为2mm 的钢板的生产过程中，一批样品是2平方米，另一批样品是3平方米，这时应换算为平均每平方米的缺陷数，然后再对它进行控制。 P控制图控制图 控制图绘制流程 P控制图制作 A1子组容量、频率、数量 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 A2计算每个子组内的不合格品率 记录每个子组内的下列值 被检的数量─n 发现的不合格的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 A4将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。 B3画线并标注 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图： 简单画法，保证上、下控制限为一条直线 可用平均样本容量 n 代替 n 来计算控制限USL；LSL。方法如下： A、确定可能超出其平均值 ± 25%的样本容量范围。 B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围的子组。 C、按上式分别计算样本容量为 n 和 n 时的点的控制限. UCL,LCL = P ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n 1 超出控制限的点 a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 1、控制限计算错误或描点时描错 。 2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）。 3、过程恶化。 b 低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种： 1、控制限或描点时描错。 2、测量系统已改变或过程性能已改进。 2 链 a 出现高于均值的长链或上升链（7点），通常表明存在下列情况之