用于高精度DAC测试的数字正弦波发生器.pdfVIP

第 39卷第 4期 微 电 子 学 V0L39，No．4 2O0g年 8月 ^ c，田P正PcfrDnfc Aug．2Oo9 用于高精度 DAC测试的数字正弦波发生器 庞建国 ，刘力源 ，李冬梅 (1．清华大学 微电子学研究所，北京 1O0084；2．清华大学 电子工程系，北京 l00084) 摘 要： 介绍了一种用于高精度 DAC测试的数字正弦波发生器。该发生器应用坐标轴旋转数 字算法 (C0RDIC)，计算出输入角度的三角函数值；同时设置相应的控制单元，可产生幅度和频率 皆可调节的实时数字正弦波。电路在)(ilinx的FPGA开发板ML4O1上实现，并利用SoPC技术提 供控制幅度和频率的界面。设计的发生器已应用于高精度(2O位)音频DAC测试，产生的SNR大 于 12OdB，可满足测试要求。 关键词： 数字正弦波发生器；坐标轴旋转数字算法；SoPC；D／A转换器 中图分类号：TN792；TN4O7