LR030AC01线性不良分析报告.doc

线性不良分析报告 Product Name ：LR030AC01 Subject: 关于产品一次线测不良分析 一．目的： 验证线测不良原因、层別并证明FILM的ITO阻值分布不均勻会造成线测不良，再针对会造成ITO阻值异常的因素作对策处置 1、产品是否严重擦拭； 2、FPC压合是否正常 3、荷重是否足够； 4、烘烤温度、时间是否正确； 5、测量阻值均匀性； 二．产品现状： LR030AC01一次线测投入201pcs，线性不良*36、不良率18％ 2、现状描述： 以上2幅图形体现为上下线功能线路出现异常（银路线划伤），伴有面电阻不均匀。 以上2幅图形体现为ITO面电阻值变化，导致线路偏移，撕开检查发现膜面有刺伤与划伤，因无四点探针测试仪测试电阻，没有准确电阻变化数值。用万用表测试表面做对比发现电阻不均匀。 撕开上线用石油醚擦拭ITO面，再重新线测，发现测试线路会有更大偏移。 以上左图体现为平行偏移，用烤箱对产品重新进行烘烤，如右图所示，烘烤对功能无变化。但考虑到密封产品重新烘烤可能效果体现不出来，不排除此类不良。 小结：另外还有异物存在于F1于F2间、下部中间有明显脏污残留，使FILM间撑起无法导通，引起不良。根据一系列排除试验 序号 重工动作 复测良品数 重工良率 1 FPC重新压合 0 0% 2 增加荷重 0 0% 3 130度30分钟烘烤 0 0% 1、排除压合不良 2、排除荷重不足 3、排除FPC不良 4、排除绝缘胶压保护胶 5、排除切割不良 6、排除气体因素 改善措施： 以上因素均不会造成此类功能不良，排除接触端点电阻，需考虑ITO面电阻与银路电阻问题，在用手刮F2银路时，发现附着力明显不足。再次生产时需注意以下几点， 1、银路烘烤时，检查网车上中下三个层别的材料银路附着力。并监测烤箱不同层别温度变化 2、前段印刷减少材料刮伤与折伤，因材料在受外力弯曲与拉扯时会发生ITO龟裂，影响均匀性。 3、组合站在撕除ITO保护胶时，用粘棒用力过大，影响产品边缘电阻不均匀 组合时对准mark后再进行组合，尽量减少因对位不准而拉扯材料现象 材料脏污是造成ITO面刮伤、擦拭导致面电阻不均匀、异物脏污残留的主要原因，需对保护胶残污问题进行处理。已安排新保护胶投入实验。 冯志强9.13 5 130℃ 30min烘烤后