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基于ＤＰ的多频带混合信号测试系统 　　摘 要：根据现代芯片制造和测试技术的趋势，论述当今混合信号测试的特点和要求，阐明国内外混合信号测试现状，探讨混合信号传统测试方法的不足。针对国内测试设备制造业的现实情况，提出一种新的混合信号测试方案，该方案基于高速数字信号处理技术，成本低廉、遵循标准化和模块化的设计思路，解决了多种频带的混合信号测试问题，是业内现实情况下测试设备制造业的一个探索。?? 　　关键词：混合信号；A/D；D/A；DP；测试技术?? 　　 　　A Multi[CD2]bandwidth Mixed[CD2]signal est ystem Based on DP?? 　　JIANG Changbin,FENG Jianke,GUO hirui,GAO Jian?? 　　(Beijing Auto[CD2]test echnology Institute,Beijing,100088,China)[J13] 　　Abstract：According to the development trend of technology in manufacture and test of ICs,the new feature and requirement of modern mixed[CD2]signal test is illuminated,the global situation of mixed[CD2]signal test is clarified in detail,and the traditional method for mixed[CD2]signal test is discussed as wellIn allusion to domestic conditions of manufacture of AE,a new ??low[CD2]cost solution for mixed[CD2]signal test which is based on high speed DP technology and complied with standardization and modularization is brought forth to resolve the testing problems of mixed[CD2]signal ICs with multi[CD2]bandwidth,it is a new exploration of test equipment manufacturing in our country?? 　　Keywords：mixed[CD2]signal;A/D;D/A;DP;test;technology[J12/3] 　　 　　1 混合信号测试的特点和测试要求?? 　　 　　随着数字化浪潮的深入，具有混合信号功能的芯片越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域的 MODEM（如ADL）,CODEC 和飞速发展的手机芯片，视频处理器领域的MPEG,DVD芯片，都是具有混合信号功能的芯片，其特点是处理速度高、覆盖的频率范围宽，芯片的升级换代周期日益缩短。这就要求测试系统具有更高的性能和更宽的频带范围，而且需要灵活的架构来应对不断升级的芯片测试需求，以便有效降低新器件的测试成本。此外，混合信号芯片种类繁多，各种具有混合信号的芯片已经广泛运用到生产和生活的各个领域，而不同的应用领域，其工作的频率和所要求的精度也各不相同，这就要求在对混合信号进行测试时，抓住其共性来提出测试方案。所有混合信号芯片的一个最基本的共性就是其内部均具有AD/DA，一些混合信号芯片还包括PLL模块。本文所论述的混合信号测试仅涉及到ADC和DAC通路。?? 　　一般，对于ADC通路，测试系统需要通过波形发生器产生适当的激励信号，同时，通过自身的数字通道采集ADC的输出信号并进行运算以获得测试结果；对于DAC通路，测试系统需要通过数字通道产生适当的激励信号，同时，通过自身的波形采样器采集DAC的输出信号并进行运算获得测试结果。但无论对于ADC还是DAC测试，都要求系统的模拟模块，即波形发生器和波形采样器，与系统的数字通道同步，才能确保测试的准确性。此外，系统还需提供丰富的内置函数，迅速完成对采集信号的运算，才能实现对ADC/DAC的静态和动态特性的测试。 因此，在对混合信号芯片的测试过程中，一般需要数字通道、波形发生器、波形分析器、直流电源、时隙分析器、系统时钟等模块，其中波形发生器和波形分析器是决定系统速度和精度的关键环节，本文分别在这两个方面做较详尽的论述。?? 　　 　　2 传统测试方法面临的挑战?? 　　 　　传统的基于纯软件的测试方法已经难于应对新型