YT2650LED晶粒外观目检挑除机.pdf

YT2650 LED 晶粒晶粒外觀外觀目檢目檢挑除挑除機機 晶晶粒粒外觀外觀目檢目檢挑除挑除機機 YT2650是一台高效率 LED晶粒外觀目檢挑除機，應用光學檢測技術檢測 LED 晶粒的 P-N電極 、發光區、晶粒本體是否有外觀不良等問題，也檢測LED晶粒 排 列的間隙是否有差異或位移及將不良 LED晶粒給予 挑除。採用高速Area Scan擷取 影像 ，以提高LED晶粒檢測速度 ，YT2650檢測 LED晶粒外觀後會產生一個 Wafer Map，該Wafer Map可以和 LED Tester測試後的 Wafer Map整合 ，並自動產生一個 具有外觀檢測資料及光電測試資料新的Wafer Map ，作為LED晶粒自動挑撿設備使 用，同時 YT2650也有自動挑撿功能 ，可以將不良的LED晶粒自動挑除 。 Inspected Wafer Map Probing Wafer Map Merged Wafer Map + = 產品功能產品功能: 產品功能產品功能 應用光學檢測技術檢測 LED晶粒的 P-N電極 、發光區、晶粒本體外觀是否 不良及汙染 。 取代人工目檢，減低人為誤判 。 採用高速Area Scan擷取影像 ，以提高LED晶粒檢測速度。 產生LED晶粒外觀檢測 Wafer Map，並可以和LED Tester測試後的 Wafer Map 整合 ，並產生一個具有外觀檢測資料及光電測試資料新的Wafer Map 。 具有自動挑撿功能 ，可以將不良的LED晶粒自動挑除 。 頂針吸嘴高度可程式設定/ 。 LED晶粒 挑除時，Blue Tape 不會有頂針孔 ，Wafer 不需翻轉及更換新的 Blue Tape 。 辨識判別速度 0.01 sec/pcs，晶粒吸取速度 0.3 sec/cycle 。 準確的晶粒辨識率 98% 。 開放參數設定 ，簡易的操作介面，易懂易學。 檢測項目檢測項目 : 檢檢測項目測項目 電極缺陷與不良 1. 電極破損 (Breakdown) 2. 電極對準不良 (Shift) 3. 電極污染 (Contamination) 4. 電極延伸 (Stretch)