一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证.pdf

第38 卷 第2 期 核 技 术 Vol.38, No.2 2015 年2 月 NUCLEAR TECHNIQUES February 2015 一种Flash 型FPGA 单粒子效应测试方法设计及验证 1,2 1,2 1 1 1,2 1,3 1,2 杨振雷 王晓辉 苏 弘 刘 杰 杨海波 成 科 童 腾 1 （中国科学院近代物理研究所 兰州 730000 ） 2 （中国科学院大学 北京 100049 ） 3 （西北师范大学 兰州 730000 ） 摘要 随着现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array, FPGA)在现代航天领域的广泛应用，FPGA 的单 粒子效应(Single Event Effect, SEE)逐渐成为人们的研究热点。选择Microsemi 公司Flash 型FPGA 分布范围最 广的可编程逻辑资源VersaTile 和对单粒子效应敏感的嵌入式RAM 单元RAM Block 作为单粒子效应的主要测 试对象，提出了两种不同的单粒子效应测试方法；然后，使用仿真工具ModelSim 对提出的两种电路的可行性 进行了仿真验证；最后，基于自主研发的实验测试平台，在兰州重离子加速器(Heavy Ion Research Facility in Lanzhou, HIRFL)上使用86Kr 束进行了束流辐照实验，实验结果表明，测试方法合理有效。 关键词 现场可编程门阵列，单粒子效应，VersaTile ，RAM Block 中图分类号 TN386 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.020404 空间辐射环境中充斥着各种带电粒子，会导致 FPGA 结构复杂，包含时序逻辑电路、组合逻 航天器中的半导体器件发生单粒子效应(Single 辑电路、存储单元和功能单元等，在辐照环境下， Event Effect, SEE) ，从而影响到航天器的寿命和可 容易发生单粒子翻转、单粒子瞬态、单粒子功能中 靠性。因此，在航天器发射之前，必须对其中的半 断和单粒子闩锁等效应[5] 。兰州重离子加速器 导体器件进行单粒子效应测试，并采取一定的抗辐 (Heavy Ion Research Facility in Lanzhou, HIRFL)是 射加固方法，提高航天器的可靠性[1] 。地面模拟实 我国重要的中高能重离子加速器，可提供几百MeV 验是研究单粒子效应的重要途径之一。地面模拟实 至几个GeV 的重离子，有宽广的LET 范围，特别 252 验是采用粒子加速器提供的高能重离子、质子、 Cf 适合于单粒子效应研究。目前在该加速器上已经开 源、中子源等对半导体器件进行辐照，诱发其产生 展了大量的研究工作，并取得了一系列重要成果[6] 。 [2] 单粒子效应进行研究 。然而，加速器束流实验机 时有限且费用昂贵，因此，在束流实验之前，采用 1 FPGA 单粒子效应测试方法 合理的仿真方法和故障注入方法，对测试方法进行 Microsemi公司Flash型FPGA具有高性能、低功 充分的验证，可确保实验的可行性，提高束流的利