原创力文档- 1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
测试系统功率半导体元件可靠性测试系统
测试系统
功率半导体元件可靠性测试系统
功率元件的可靠性测试
SEMTest对于包括IGBT、MOSFET、SCR、二极管和双级部件和模块在内的功率半导体元件的可靠性和延长寿命测试是理想
的配置。此集成解决方案拟用于产品开发特性化，并包含测试系统，燃烧烤箱、冷却器、冷却板和测试软件。
测试系统执行热量和电气循环组合，从而对包括基于金刚砂 (SiC))的半导体新产品、新工艺和新材料或为满足RoHS需求
的新设备进行验证。
SEMTest被设计用来加速设备中的任何故障机制以便确定它的寿命和功能性运行极限。
应用
设计工程验证
设计特性化
生产确认
特点：
为DUT提供热量和电气压力的功率循环
DUT的高速寿命测试
具有用户定义的报警和控制限制的趋势检测
接点温度测量
快速DUT温度循环和环境温度曲线绘制
自动化报警机制对初期故障的检测
DUT隔离控制
文档评论（0）