X光吸收光谱之原理及应用李志甫November52015WhyneedSR.PPT

Tetrahedron 具有fcc晶格結構之三種不同顆粒形狀 Octahedron Particle size越小 ? 平均的配位數(Nc)越低 drel = (diameter of particle) / (diameter of atom) Reference: J. Mol. Catal. 25, 379 (1984). Inverse FT k-space FT Ru K-edge EXAFS to probe neighboring atoms of Ru-Cu nanoparticles 二者inverse FT之振盪趨勢差異不大，顯示Ru周圍幾乎沒有Cu ?? ??? Reference: J. Chem. Phys. 72, 4832 (1980). Inverse FT k-space FT Cu K-edge 二者inverse FT之振盪趨勢差異很大，顯示Cu周圍可能有Ru EXAFS to probe neighboring atoms of Ru-Cu nanoparticles ?? ??? Ru K-edge Cu K-edge 新鮮還原態 吸附氧氣後 吸附氧氣前後,Ru之FT-EXAFS圖強度差異不大;顯示Ru-Cu奈米顆粒中的Ru可能存在核心,因此不易被氧化 吸附氧氣之後,Cu之FT-EXAFS圖明顯改變;顯示Ru-Cu奈米顆粒中的Cu可能存在表面,因此容易被氧化 EXAFS to probe neighboring atoms of Ru-Cu nanoparticles ?? ?? ??? ??? Charged (充電): Li 離子從晶格遷出, 造成晶格部分扭曲, 故結構趨於disorder Cycled(充放電一次): 從圖上來看只能部分或接近回到初始狀態, 無法完全回復;因此手機電池充放電循環多次後,將使結構整個 破壞,無法繼續使用 Fresh (初始態): 結構最有序 熱擾動 原子靜態下的排列亂度 EXAFS to probe structural disorder of LiCoO2 electrode EXAFS to probe local atomic structure of Na(Co0.99Mn0.01)O2 Mn原子與Co原子之FT-EXAFS圖形(又稱原子徑向分佈函數)相似,表示配位環境一樣; 換言之, Mn確實取代在 Co 的位置上 XANES to probe valence state of toxic CrO42- species Reference: Physica B, 208209, 577 (1995). XANES to probe charge transfer of Li2SrSiO4:(Ce/Eu) yellow phosphor Reference: Appl. Phys. Lett. 96, 061904 (2010). Eu L3-edge 1. 螢光粉所含的Eu為混合價態,只摻雜0.5% Eu的樣品中Eu3+明顯多於Eu2+ 2. 隨著Ce摻雜濃度的增加(Eu濃度保持固定), Eu3+的比例逐漸減少;顯示Ce將電子傳給Eu Eu2+ Eu3+ XANES to probe thickness of LaNiO3 thin film 1. 改變不同Si(100)基板之濺鍍溫度;其薄膜厚度與濺鍍時間均呈正比 2. 基板之濺鍍溫度越低,其薄膜厚度越大(成長速度越快) 利用edge jump 推算薄膜厚度(或元素含量)與濺鍍時間之關係 XANES to probe thickness of LaNiO3 thin film 對比較重之La元素而言,改變濺鍍溫度其edge jump差異不大 對比較輕之Ni元素而言,改變濺鍍溫度其edge jump有明顯變化,且250oC時斜率最大;換言之,造成其厚度變化主要是由Ni元素所控制 La L3-edge Ni K-edge Reference: J. Appl. Phys. 80, 2175 (1996). (?) (?) Polarized XAS investigation of Br2 adsorbed on graphoil sample 基板(石墨)表面層 Br2 氣體 電場 E 平行基板 由EXAFS 之振幅大小判斷基板表面Br2分子之吸附狀態 電場 E 垂直基板 X光吸收光譜之缺點與限制 獲得的訊息(包括氧化價數與配位數等) 為樣品中所有吸收原子的平均值，因此當樣品含有不只一種狀態下的吸收原子(譬如存在不同晶相中)時，解讀數據分析結果需特別注意。 * * 同步輻射在觸媒化學上之應用 (X光吸收光譜之原理及應用) 李