AEFT3101Rev01[ProbeCard机台良率分析].pptVIP

下载本文档

32
0
约小于1千字
约 5页
2018-03-11 发布于河南
举报
版权申诉

AEFT3101Rev01[ProbeCard机台良率分析].ppt

1、本文档共5页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

AEFT3101Rev01[ProbeCard机台良率分析]

1.厂内良率针对P/C的判断标准：参照Probe Card验收标准：Pass Yield Gap≤0.3%，单一bin rate Gap≤0.15% W10MT049-019 Rev1[Probe card 验收表： 2.实例讲解例1：P/C固定机台测试根据P/C的测试的pass rate,前三大defect bin rate做分析和层别，判断是否异常例2：P/C和机台的搭配不固定这类情况，需要层别机台和P/C来找到异常的真因 Assembly Testing Division Assembly Testing Division Training report * Probe Card良率分析 Probe Card机台良率分析 Owner: Reviewer: Approver : Date：2009-03-04 Version：01 所有字体：宋体+Arial Revision History文件修正一览表 New Issue ALL 构装工程部 2009-03-04 1 修订说明 Revision Contents 页次 Page 修订人 Issue By: 修订部门 Issued Dept. 生效日期: Effective Date: 版别 Rev. 从图中可以清楚看到，#01的P/C，pass rate和bin12 rate均偏高，接下来只需要交叉验证来判断是机台异常，还是P/C异常图1By P/C做层别，可以看出#01，#05的O/S rate都偏高，但#01在FT-17和FT-33都有做测试，而#05只在FT-33做测试；进一步By机台做分析，发现#01在FT-17的O/S rate较低，而在FT-33较高，说明#01 卡片O/S rate偏高的问题，是在FT-33上引起的，而#05在FT-33的O/S rate也偏高，由此可以判断：FT-33机台异常说明： Assembly Testing Division Assembly Testing Division Training report * Probe Card良率分析