固体物理实验方法概述一些实验仪器.ppt

固体物理实验方法   绪论  各种固体物理方法分析技术简介 X射线的性质、X射线衍射 X射线衍射测量方法（残余应力） AFM 原子力显微镜（界面强度） 纳米压痕仪（光机械行为） 各种分析技术简称及应用 一、Elemental Analysis 元素分析 二、 Molecular and Solid State Analysis 分子与固态分析 三、Surface Characterization Techniques 表面表征技术 1、Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱 该技术可以用来分析常规样品中某元素的含量,主要适用样品中微量组分分析。 2、Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱 该技术通过检测俄歇电子的能量和强度，可以获得有关表层化学成分的定性或定量信息，为成功地解释各种和界面成分有关的材料性能特点，提供了有效的分析手段。 3、Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析 该技术采用电子束轰击固体样品表面，并根据微区内所发射出的 X射线的波长（或能量）的强度对样品进行元素定性、定量分析。 4、Electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA) 化学分析电子能谱 该技术采用X射线为激发光源照射分子或固体表面，激发原子中的内层电子（也可激发外层价电子和能带电子），使其电离出去成光电子。通过分析样品发射出的光电子能谱与各元素在电子能谱图上的特征峰对比，可以了解物质的组成及离子价态。 5、Energy dispersive spectroscopy (EDS) 能量色散谱 该技术是X射线能谱分析的一种。可进行物相鉴定。 6、Flame photometry 火焰光度法 火焰光度法是用火焰激发被测元素，并以光电系统测量被激发元素所产生的谱线强度的一种分析方法。可以定性和定量地测量样品中某元素的含量。 7、Wavelength dispersive spectroscopy (WDS)波长色散谱 该技术通过测量特征x射线的波长和强度，即可鉴别样品中元素的种类和浓度。  8、X-ray fluorescence (XRF)X射线荧光 该技术利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。 9、Total reflection X-ray Fluorescence (TXRF)全反射X荧光分析 全反射X荧光分析技术，是一种在X射线荧光分析技术基础上发展起来的全新技术，其主要特征是通过反射技术去掉在通常X荧光分析中高能散射本底的影响，提高了分析灵敏度，分析刻度简单，分析样品量少（微克量级），设备简单。功能同X射线荧光分析技术。 10、Chromatography [gas chromatography (GC), size exclusion chromatography (SEC)] 色谱[气相色谱，体积排除色谱] 色谱法是一种利用不同物质在不同相态的选择性分配，以流动相对固定相中的混合物进行洗脱，混合物中不同的物质会以不同的速度沿固定相移动，最终达到分离效果的分离和分析方法 。它可以定量或者定性测定混合物中各组分的性质和含量。气相色谱是一种定量的分析性色谱。 11、Electron diffraction 电子衍射 电子衍射和X 射线衍射一样，可以用来作物相鉴定、测定晶体取向和原子位置。电子衍射适合于研究薄膜、大块物体的表面以及小颗粒的单晶。电子衍射较X 射线衍射更优越些。 12、Electron microscopy电子显微镜 电子显微镜简称电镜，是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。电子显微镜有扫描电子显微镜（Scanning electron microscope，SEM）、透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy TEM）和扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）几种。 13、Electron spin resonance (ESR) 电子自旋共振 研究的对象是具有未偶电子（或未成对电子）