三端电容极性测试程式说明.doc

三端電容極性測試程式說明 測試點： 測試程式： PartName Act_V Std_V Hlim% Llim% Mode Type Hip Lop Dly G-P1 CE1 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 5 CE11 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 15 說明： 測試原理為從HiP送 source voltage，然後從G-P1讀回量測值，由於缺件或反插，其量測值很低(接近 0) ，所以只比較下限，上限Don’t care。 Act_V：Source voltage，建議值為 0.2V Std_V：Sense Voltage (Threshold)，依實際Debug後決定 Hlim ：固定為 –1 (Don,t care) Llim ：建議值為20，可依實際Debug後決定 Mode : 固定為 8或18(適用於防爆電容) Type ：固定為 PX Hip ：電容負端 (source pin) Lop ：電容正端 Dly ：依實際Debug後決定 G-P1 ：Sense Pin 除錯規則： 將 Hip / Lop 相同的電容放在一起，例如CE1,CE2,CE3 的HiP及LoP都是1及3，所以測試程式如下： PartName Act_V Std_V Hlim% Llim% Mode Type Hip Lop Dly G-P1 CE1 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 5 CE2 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 7 CE3 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 9 CE4 0.2 0.15V -1 20 8 PX 20 21 0 22 CE11 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 15 CE12 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 17 Debug時可交換HiP及Lop比較量測值，以決定較佳之 Threshold (Std_V) 若交換HiP及Lop量測值差異不大可調整Delay time 或 Source voltage(Act_v) 若交換HiP及Lop量測值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜，可用換針或扶正待測電容方式解決 治具製作時第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差異，以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題 三端電容量測是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯件 可利用量測分析工具(Hot Key F12)，決定較佳Threshold，Delay time  縱軸為量測值，橫軸為Delay time，紅線表正常時曲線，藍線為勾選改變高低點的反向曲線 HiP: 1 G-P1 : 5 LoP: 3 - + Cap.