X射线衍射仪原理与应用PPT.ppt

X射线衍射仪功能与应用 ;从X射线衍射、散射可以得到下列信息;X射线衍射的原理;X射线衍射图谱;多晶的X射线衍射;;; ;X射线衍射仪软件系统;各种实验方法应用软件及功能;各种实验方法应用软件功能 ;XRD能开展的工作（包括高分子聚合物）;X射线衍射物相分析;精确测定晶格常数;衍射多重峰的分离;测定晶粒大小和晶格畸变;WPF/Rietveld分析（晶体结构的精密化）;Rietveld分析（定量）;Au纳米粒子的粒径分析示例;X射线衍射仪工作原理图 ;德国布鲁克X射线衍射仪;垂直X射线测角仪; 垂直测角仪光学原理图;1、 利用布拉格衍射峰位、峰形及峰强度分析 （1）?? 晶体及相结构的分析。包括晶体及相结构的测定解析，谱线指标化及晶系的测定，化合物物相的定性和定量分析，相变的研究，薄膜的结构分析，结晶形态的研究等，此类分析是最常用。 （2）?? 晶体取向和织构的分析 其中包括晶体定向，解理面、惯析面的测定，晶体生长的形变研究，材料织构的测定和分析、极图、反极图以及取向分布函数（ODF）的测定等。 ;（3）?? 点阵参数的精确测定 其中包括固熔体组分和类型的测定，固熔体相组分的定量分析，固熔体的固熔度的测定，宏观弹性应力和弹性系数的测定，热膨胀系数和压缩系数的测定，晶体原子间距大小，键能大小、密度、晶胞体积、熔点的测定，半导体等材料的配比，表面错配度，膜厚的测定等。 （4）?? 衍射线形的分析 其中包括晶粒大小和嵌镶块尺寸的测定，冷加工形变的研究及微观应力的测定，有序度及结晶度的测定，变形金属结构的测定，晶体点阵应变的测定，疲劳过程中材料显微结构变化的研究等。 ; ; ;不规则样品测试原理图;X射线透射实验装置;;毛细管实验测试装置;;薄膜X射线掠射、反射实验装置; X射线掠射、反射衍射原理图; 薄膜反射研究实验装置; 织构及应力测试实验装置;;。 ; ;（1）?? 半导体外延膜的检测，包括点阵失配成分的变化分析，外延膜及衬底取相差的测定，膜厚的测定，点阵相干性的研究，晶片弯曲度的测定，衬底和膜结晶完整性的研究，半导体超晶格的结构分析。 （2）?? 晶体生长和完整性的观测。包括???体生长机理研究，晶片弯曲度和弯曲方向的测定，位错运动和新的位错反映，硅单晶中孪晶界面的结构缺陷及堆垛层错的结构。; X射线微区衍射实验装置; X射线小角广角衍射仪;3.1????? 利用小角度散射强度分布分析 （1）微小散射区（超细粉末粒子或微孔）形状、纳米颗粒大小和分布的测定。如回转半径的测定，孤立体系的散射和散射体的尺寸、?? 形状的平价、粒子界面结构的表征。 （2）?? 高分子和生物大分子的研究。例如高分子溶液分子量和分子量分布测定，溶液中高分子线团尺寸和形状的测定，聚合物的形变和结构，结晶聚合物的形态结构，嵌段聚合物微相分离以及离聚物中离子聚集体的结构、生物组织的结构的测定。 ;（1）?? 固体内部及某些表面缺陷的研究，聚合物和纤维中微孔的测定。 （2）?? 聚合物中长周期的测定。 （3）?? 聚合物/填料体系以及催化剂比表面积的测定。 ;?;摄像板（IP）X射线衍射装置;蛋白质晶体结构立体图;影象板单晶自动X射线结构解析装置;分子晶体结构测试结果数据图表;有机晶体结构模型;有机晶体结构模型;扫描X射线形貌相机;（1）?? 晶体生长和完整性的观测。包括晶体生长机理研究，晶片弯曲度和弯曲方向的测定，位错运动和新的位错反映，硅单晶中孪晶界面的结构缺陷及堆垛层错的结构。 （2）?? 晶体内位错的观测。其中包括位错密度的测定，宏观晶体缺陷的观测分析，单个微观晶体缺陷的观察分析。 （3）?? 铁瓷畴和铁电畴的观测。例如可观测不透明材料的内部畴，并且还可以观测铁磁体的瓷致伸缩大小，研究缺陷与畴壁的交互作用等。 ;GaAs晶体（220）晶面缺陷 ;扫描X射线衍射形貌相机;LiF晶体（200）晶面缺陷;扫描双晶形貌测角仪;Si单晶(511)、(440)晶面缺陷;LGTV-2形貌测角仪;华东理工大学D/max2550VPO;华东理工大学D/max2550VPO;D/max2500VPC（上海大学）;布鲁克微区衍射装置（吉林大学）;D/max2500VPC右侧衍射装置（吉林大学）;D/max2500VPC设备安装调试;D/max2500VPC左测小角衍射装置（吉林大学）;SI单晶片微观形貌图片