偏光显微镜与单偏光系统及实验PPT.pptVIP

第二章 偏光显微镜 一. 偏光显微镜的构成 机械系统. 光学系统. 附件 (一). 机械系统主要部件 (1). 镜座与镜臂: 支撑显微镜及连接光源,物台,镜筒 . (2). 镜筒: 连接目镜和物镜的部件. (3). 物镜转换器: 用于安装,选择不同倍数的物镜. (4). 载物台: 放置薄片用的可3600转动的圆形平台 (5). 焦准设备(升降系统): 分粗调和微调.调节焦距. (6). 聚光镜架:连接聚光镜,下偏光镜,上锁光圈等的部件 (7). 上,下锁光圈: 控制光的通过量. 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (1). 光源: 分为自然光源和人工光源. (2). 下偏光镜: 在聚光镜架底部,作用是把自然光转变为偏光. (3). 聚光镜:在聚光镜架上部. 作用是把偏光转变为锥光. (4). 物镜: 由多组透镜组成,连接在物镜转换器上,是决定放大 倍 数及成像质量的重要部件.按放大倍数分为三类: 高倍镜 40? 100 ? 中倍镜 10 ? 20 ? 低倍镜 2.5? 4 ? 有关术语:前透镜,后透镜,孔径角,数值孔径 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (5). 目镜:由眼透镜和场透镜组成.目镜中附有十字丝.倍数 有10 ?和8 ?两种. (6). 上偏光镜: 位于目镜和物镜之间.振动方向与下偏光镜 振动方向垂直.可自由的推入或拉出. (7). 勃氏镜:位于目镜和上偏光镜之间,可自由的推入或出, 与聚光镜和高被镜配合使用. (三). 附件 必备附件:石膏试板(?), 云母试板(?/4),石英楔(1-3级) 二.偏光显微镜的调节与校正 (1). 选择并装配物镜和目镜. (2). 焦准. (3). 物镜中心的校正. (4).下偏光镜的检查. (5).上偏光镜的检查 三.偏光显微镜的养护(P40) 第二章 偏光显微镜 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 单偏光系统 在只使用下偏光镜(起偏镜)的情况下,观察和测定矿物的光学性质的系统. 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 主要内容 1.矿物的外表特征: 形态,解理等. 2.与矿物吸收性有关的光学性质: (颜色,多色性,吸收性等) 3.与矿物折射率有关的光学性质: 突起, 闪突起, 糙面, 边缘, 贝克线, 色散线等 一. 矿物的形态 (1).控制因素： 矿物成分,内部结构,物化条件,晶出顺序. (2).观察内容： a.矿物自形程度：自形晶,半自形晶,它形晶. b.矿物单体形态：粒状,针状,板（条）状, 柱状,片状 . c.矿物集合体形态：纤维状,放射状,球粒状, 网状,交生状,雏晶状. 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 (3).观察方法 综合不同切面特征,正确判断矿物的单体形态. 同一单体不同切面形态示意图 一.矿物的形态 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 二. 解理及解理夹角 不同矿物的解理特征(包括解理组数,完善程度,解理夹角等)通常不同,因此解理是鉴定矿物的重要依据之一. (一) .解理在薄片中的表现形式 沿一定的方向平行排列的细缝(解理缝).缝中为树胶所充填,因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现. (二) .解理等级的划分 (1).极完全解理:解理缝细而密集,贯穿整个晶体. (2).完全解理:解理缝清楚,缝较稀,不完全贯穿晶体. (3).不完全解理:解理缝宽而稀疏,不清楚,断续通过晶体. 注意解理与矿物裂纹的区别 二. 解理及解理夹角 (三). 影响解理缝清晰程度的因素 (1).矿物解理的完善程度. (2).切片的方向. (3).矿物折射率和加拿大 树胶折射率差值. 该差值决定了解理缝 的可见临界角 判断解理等级和组数时,注意综合观察多种切片. a b a α 解理缝宽度与切片方向变化示意图 二. 解理及解理夹角 (四).解理夹角的测定 切片方向的选择 选择同时垂直两组解理面的切片. 特征是两组解理缝最细最清楚, 当解理缝平行目镜十字丝时, 微微升降镜筒, 两组解理缝不左右移动. A C B D E H F G K =60 ＞60 ＜60 不同方