集成运放检测仪论文.docVIP

基于STC89C52单片机的集成运放检测仪的设计 王剑 阮磊 汪丹英 莫晓敏 摘要：为了能更高效、更准确地从实验室废弃芯片中找到尚可利用的芯片，提出了一种基于STC89C52单片机的集成运放检测仪。该检测仪通过STC89C52单片机及相关硬件电路实现检测过程的自动化，摆脱了传统方法的繁琐步骤带来的困扰；通过LCD1602液晶显示器实现检测结果的可视化，使得检测人员更直观、更方便的得到检测结果；通过键盘输入实现检测元件的多样化，可以有选择性的检测多种常用的芯片；从而能大大改善了芯片检测的效率。实践证明该系统具有一定的可靠性和实用性。 关键词：STC89C52单片机 集成运放 检测仪 Design of operational amplifier detector based on STC89C52 microcontroller WANG Jian RUAN Lei WANG Dan-ying MO Xiao-min Abstract：In order to find available chip from laboratory abandoned chip more efficient and more accurate, operational amplifier detector is proposed. This detector make use of STC89C52 microcontroller and related by hardware circuit to realize automatic inspection, which disencumber us of trouble which brought from fussy steps of the traditional methods ；this detector make use of LCD1602 liquid crystal display to realize the visualization of text results, which make inspection personnel more intuitive, more convenient get test results; This detector make use of keyboard entry to realize the diversification of test components, so we can text various kinds of common chip; Thus this detector can greatly improve the efficiency of microarray assay. The practice has proved that this detector is reliable and practicable. Key words: STC89C52 microcontroller operational amplifier detector 1 引言 目前，就中国计量学院而言，由于实验教学和课外学生项目较多，电路及电子技术实验室中的芯片使用量大且使用型号相对集中，有些芯片价格相对较高。然而，在实验过程中，实验员或学生并没有充足的时间来判断芯片的好坏，用自己的主观经验来判断，把不能正常实现实验目标的原因归结于芯片本身问题，将可疑的芯片废弃，用新的芯片来代替原有的芯片。由于人为原因，在废弃芯片中有相当大的比例还可以正常使用的。为此我们对计量学院电路及电子技术实验室废弃芯片进行统计。用传统方法对实验室中废弃芯片做检测，得出如表1所示的数据： 表1.实验室10月11月12月芯片统计表 10月份 11月份 12月份 废弃芯片数量/个 可利用芯片数/个 可利用占的比例/% 废弃芯片数量/个 可利用芯片数/个 可利用占的比例/% 废弃芯片数量/个 可利用芯片数/个 可利用占的比例/% 数字芯片（如74LS161、74LS138等） 35 10 28.6 34 9 26.5 34 8 23.5 运放芯片（如OP07、uA741等） 16 3 18.7 15 3 20 18 4 22.2 电源芯片（如7805 7815等） 9 1 11.1 7 1 14.3 10 2 20 总计 60 14 23.3 56 13 23.2 62 14 22.5 由调查统计得到的数据不难看出，实验室中废弃的芯片有近25%的芯片可再利用。这是一项较大的实验室额外支出，如能从这些废弃的芯片以较短的时间较好的仪器挑出尚可利用的芯片，就能大大减少实验教学成本，变向的加快实验室建设。传统检