空乏层厚μm-宇宙线研究室-京都大学.pptVIP

ASTRO-E2搭載CCDカメラ(XIS)校正システムの改良及び性能評価 京都大学理学研究科宇宙線研究室 中嶋　大、千田 篤史、 松本 浩典、鶴 剛、小山 勝二 1.ASTRO-E2/XIS 2005年2月打ち上げ予定 XIS…搭載検出器の1つ(CCD) 撮像分光可能な標準的検出器 エネルギー帯域　0.2-12.0 keV エネルギー分解能　130 eV @7 keV 京大は高エネルギー側(2 keV) の較正実験を担当、 その準備としての実験 2.目的 ゲイン?分解能(1号機で詳細に実験済) 検出効率Q(E)=X線として検出したイベント数(Nd)　　 XISに入射したphoton数(N0) 3.測定システム 京大クリーンルーム内X線測定システム 4. 1号機較正実験での問題点と今回の改善点 1号機…金属の特性X線を当てた 比例計数管(PC)で入射強度を測定 But…絶対強度の導出が困難 ①PCの窓(Al膜)の厚みの測定が必要 ②特性X線ごとに異なる強度で測定　→X線発生装置の強度は安定か？ 5-1.連続X線スペクトル Q(E)=Nd(E)/Nin(E)σQ2=(Nd/Nin)×√[(σNin/Nin)2+(σNd/Nd)2] より検出効率を求める 5-2.検出効率と空乏層厚 Q(E)=exp(-μSi(E)ρSid1)×exp(-μSiO2 (E) ρSiO2d2)×[1- exp(-μSi (E) ρSid3)]でフィット(エネルギー領域中にOエッジが含まれていないためd2=0.3 μm で固定) 6.課題とこれからの改善点 課題 低エネルギー(≦2 keV)でSSDのQ(E)が有意に1.0となり検出効率を決められなかった 改善点 窓無しSSDを用いる 　　?Be膜の影響が無く、 SSDの低エネルギーでの　　Q(E)が～1.0と見なせる(絶対強度が既知)　　XISのQ(E)を低エネルギーでも求められる 　　?絶縁層厚(d2)もfittingで決定可能になる 長時間測定 　　?XIS?SSDともに統計の良いデータを取得 　検出効率の精度をさらに改善 7.まとめ 2005年2月打ち上げ予定X線天文衛星ASTRO-E2/XISの較正実験の準備 連続X線を用いて、高エネルギー側( 2 keV)で初めて検出効率を連続的に求めた86 (±4) % @ 4-5 keV25 (±1) % @ 12-13 keV 空乏層厚を～2%の精度で導出68.9(67.6-70.2)μm 今後の改善点 低エネルギー領域で検出効率を求めたい ?窓無しSSDを用いた測定 さらに高精度で求めたい ?長時間で統計のよいデータセットを得る 測定方法 連続X線をXISに当てる 連続X線をSSDに当てる SSDスペクトルをXISの位置、有効面積でのスペクトルに焼きなおす 空乏層厚の導出 各セグメントとも精度10%以内を達成 XISの目標である70μmを達成していることを確認 * * 2002 2003 2004 2005 6 2 2 打ち上げ 総合試験 一噛み Fright Model製作 単体 試験 10 XIS d1 d2 d3 d1:電極(Si)厚 d2:絶縁層(SiO2)厚 d3:空乏層(Si)厚 =exp[-μSi(E)ρSid1] 　　　× exp[-μSiO2 (E) ρSiO2d2] 　　　×[1- exp(-μSi (E) ρSid3)] 低エネルギー側のQ(E)…電極?絶縁層厚に大きく依存 高エネルギー側のQ(E)…空乏層厚に　〃 観測のエラーsystematicなエラーとなる精度で求めたい(～4%)空乏層厚も同等の精度で求めたい 絶対強度測定用SSD X線発生装置電子を高圧で加速?一次ターゲット(タングステン)中で制動輻射させる XIS 二次ターゲット 使用したCCDチップ1号機のPM (SEJ3　w445c2) Thomson散乱 or 吸収再放出させた 二次X線 絶対強度測定にSSD(Q(E)～1.0)を用いる　　　　　　　　　　　?①を解決 二次ターゲットにポリエチレン[-C2H6-]nを用いる連続X線を当て、1回の測定でQ(E)をEに沿って連続的に求める　　　　　　　　　　　　　　　　　?②を解決 Energy (keV) 5 10 0.5 0.2 1.0 2 Q(E) 赤:京大 緑:MIT 黒線(d1,d2,d3)=0.5,0.3,70μm (keV) 5 10 2 15 Nd(E) W Lα W Lβ W Lγ Ni Kα W Mα (keV) 5 10 2 15 10 50 XISで検出したイベント SSDスペクトルをXIS