各种量测方法与讨论.PDFVIP

第二章 各種量測方法與討論 液晶參數的量測方法有很多種 ，主要量測原理是藉由液晶盒在兩 個外加偏光片 （polarizer）間的光學特性 ，來量測液晶的扭轉角及 厚度 ；我們將收集 、研究文獻中已有的量測反射式液晶盒厚度的方法 做分類整理 ，並將其分為五大類 ，分別為旋轉液晶盒量測法 、旋轉 λ /4 波片量測法 、光譜儀量測法 、相位補償量測法 、及 Stoke參數量 測法 ，分別描述如下: 2.1 、旋轉液晶盒量測法 ：[5,6,7] 由於反射式 TN－Cell的反射率在 Cross-Polarizer下和 input polarizationgleβ角有很強的相依an (dependent)關係 ，其中β角 為第一層液晶光軸和偏光片的夾角 ，旋轉液晶 Sample可以求得反射 率的最大值及最小值 ，而液晶盒的厚度又為反射率極值的參數 ，故可 以利用測量反射率的極值反推以求得液晶盒的厚度 。 在 cross-polarizer下 ，且第一層液晶指向矢的方向和偏光片 平行時 ，利用 2X2 Jones Matrix Calculus可以得到反射式扭轉型線 狀液晶的的正射反射光強度為 ： 5 2 2 sin X f R= sin 2 b cos X cos 2 b sin X X X 若 R 對β做偏微分 ，則可以求得反射光最大時的βmax及反射光最小時 的βmin，再利用實驗中旋轉液晶盒找到穿透率為極值時的β值 ，則可 求得 cell gap的值 。 arctan( X ) arctan( f tan X ) R f tan X X 0 bmax ； bmin b 2 2 2 其中 X= f 2 ， Γ=2πdΔn/λ， φ為液晶扭轉角 。 4 實驗裝置圖如圖 2.1 所示 ，使用 He-Ne雷射為光源 ，波長為 632.8nm， 雷射光會依序通過偏光片 、Beam Splitter、反射式液晶樣品 、再反 射通過 Beam Splitter、檢光片 、最後由光偵測器接收 ，其中偏光片 和檢光片的光軸夾 90 度 。 圖 2.1 、實驗裝置圖 6 2.2 、旋轉 λ/4 波片量測法[8] 模擬反射式 LCD 的光學狀態 ，以建立其資料庫 ，供以下量測步驟 比對 、取值 ，平均反射率 R 為 cell gap d的函數 ，在以下模擬條件 下 ，可得如圖 2.2 的模擬結果 。 圖 2.2 、平均反射率 R 對 cell gap 量測之架構如圖 2.3 所示 ，旋轉 1/4λ片 ，每隔 0.5°量一次反射 率 ，因此在旋轉一圈 360°後可得 720 組反射率值 ，將其作一平均 ， 可得一平均反射率值 。對照已建立之模擬曲線 ，即可得知其所對應的 cell gap值 。若發現其所量測出的平均反射率值對應多個 cell gap 值 ，則可將未平均前反射率對角度的量測曲線 ，與得到的多個 cell gap值的未平均前反射率對角度的量測曲線做一比對 ，可得一最近似 的曲線圖 ，其值即為 cell gap，如圖 2.4 所示 。 7 圖 2.3 、實驗架構圖 圖 2.4 、未平均前反射率對角度的量測曲線比對 8 2.3 、光譜儀量測法[1,2] 根據 2X2 Jonestrix Ma計算 ，一反射式液晶盒在 c