晶体光学5锥光系统一轴晶1章节幻灯片.pptVIP

第五章.锥光系统下晶体的光学性质 第一节. 锥光系统的装置及特点 在正交偏光系统的基础上，加入聚光镜并将其提升到最高位置，换用高倍物镜，推入勃氏镜或去掉目镜，便构成了锥光系统。 (一).锥光系统的装置 (二).加入聚光镜的作用 把透过下偏光镜的平行偏光转变成锥形偏光, 并使锥形光束的焦点正好位于在薄片的下表面, 以倒锥形光束进入矿片. 平行偏光通过聚光镜转为锥形偏光示意图 锥形偏光束的特点: 除中央一条光波垂直入射矿片外, 其余各光波均是倾斜入射矿片，而且愈外倾角愈大，通过矿片的距离也愈长. 聚光镜 矿片 平行偏光 锥形偏光 A.立体图 B.侧示图 C.俯视图 通过聚光镜在薄片中产生的锥形光束 b a c e d c′ d′ e′ a′ b′ b a c e d c′ d′ e′ a′ b′ O a b c d e a′ b′ c′ d′ e′ 10° 30° 120° 低倍 中倍 高倍 (二). 高倍物镜的作用 能接纳较大范围的倾斜光波 不同倍数物镜能接纳的锥光范围示意图 (四). 加入勃氏镜或去掉目镜的作用 锥光镜下观察到的干涉图，其成象位置在物镜的后焦平面上，去掉目镜，能直接观察镜筒内物镜的后焦平面上的干涉图实象，其图形虽小，却很清晰。 不去掉目镜，则必须推入勃氏镜才能看到干涉图.此时，勃氏镜与目镜联合组成一个宽角度望远镜式的放大系统，其物镜前焦平面恰在干涉图的成象位置，可看到放大的干涉图图象。其图形虽大，但较模糊。 第二节.干涉图及其特点/成因/应用 一. 锥形偏光束通过矿片产生的光学现象(干涉图) 均质体: 光学性质各方向一致，任何方向的入射光都不发生双折射, 在正交偏光镜间全消光. 非均质体:光学性质随方向而异,垂直不同入射光波的光率体椭圆切面不同,当许多不同方向入射光波同时通过矿片后,到达上偏光镜所发生的消光与干涉效应也各不相同. 干涉图: 在锥光镜下观察到的是锥形偏光束中, 各个不同方向的入射光波，通过晶体到达上偏光镜后产生的消光和干涉现象的总和,它们构成一种特殊的图形, 称为干涉图 (干涉象). 注意: 干涉图不是物体本身的映象. 第二节.干涉图及其特点/成因/应用 二. 影响干涉图的因素 在非均质体中,垂直锥形偏光束中各入射光波的光率体椭圆半径在矿片平面上的分布(波向图)是影响干涉图的主要因素. 不同轴性或不同方向的光率体椭圆半径在矿片平面上的分布情况,可以用球面投影的方法作出(推导过程略). 不同轴性或不同切片方向的矿片的波向图不同,因此,它们的干涉图特点也不同. 第三节 一轴晶干涉图 (1)垂直光轴切面 (2)斜交光轴切面 (3)平行光轴切面 (一). 垂直光轴切面的干涉图 干涉图由一个黑十字和同心环状干涉色色圈组成.旋转物台360o,干涉图不变化. 黑十字交点位于视域中心, 是光轴的出露点，两条黑带分别平行上下偏光的振动方向. 干涉色色圈从中心向外越来越密, 且干涉色级序升高 (干涉色色圈的多少取决于矿物的双折率和矿片的厚度). 一轴晶垂直光轴切面的干涉图示意图 1. 特点 2. 垂直光轴切面干涉图的成因 (1).黑十字成因:在垂直光轴切面波向图中,黑十字范围内的光率体椭圆半径在矿片平面上的分布与上/下偏光镜的振动方向平行或近似平行,故在正交偏光镜间出现消光而出现黑十字. A.垂直光轴切面干涉图 B.垂直光轴切面波向图 No No Ne’ Ne’ (2).干涉色色圈成因:由黑十字交点(光轴出露点)向外,光波通过矿片的距离逐渐增大,双折率也逐渐增大,既光程差逐渐增大,所以形成逐渐增高的干涉色色圈. (3).旋转物台360o:波向图不变化,故干涉图也不发生变化. 鉴别轴性、切片类型、测定光性符号、测定No的折射率或No的颜色。 3. 垂直光轴切面干涉图的应用 A.Ne’和No的方位 一轴晶垂直光轴切面光性符号测定示意图 No Ne′ 升 Ne′ No 升 No Ne′ 降 Ne′ No 降 B（+） C（-） No Ne′ 升 Ne′ No 升 No Ne′ 降 Ne′ No 降 No Ne′ Ne′ No No Ne′ Ne′ No (二). 斜交光轴切面的干涉图 1. 小角度斜交光轴切片的干涉图 0° 45° 90° 135° 特点: 光轴出露点虽不在视域中心，但仍在视域之内，由不完整的黑十字和干涉色环组成。四个象限的位置仍能分辨，光轴的出露点围绕十字丝交点作圆周运动，黑臂作上下、左右平行移动。其应用: 同垂直光轴切面干涉图 小角度斜交光轴切片干涉图中黑带移动规律示意图 小角度斜交光轴切片干涉图应用 小角度斜交光轴切片光性符号测定示意图 Ne′ No A.（+） Ne′ No B.（-） 45° 22.5° 90° 0° 大角度斜交光轴切片干涉