X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量.docxVIP

ＤＯＩ：１０．１３２２８／ｊ．ｉｓｓｎ．１０００－７５７１．２０１４．０９．００８Ｘ 射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量吕善胜，徐金龙＊ ，田琼，洪武兴，史亚晓（湛江出入境检验检疫局，广东湛江 ５２４０２２）摘 要：采用粉末压片法制样，建立了 Ｘ 射线荧光光谱法测定石灰石中１０ 种组分（ＣａＯ、ＳｉＯ２ 、ＭｇＯ、Ｆｅ２Ｏ３ 、Ａｌ２Ｏ３ 、ＭｎＯ、ＴｉＯ２ 、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏ、ＳｒＯ）含量的方法。 通过试验确定石灰石样品粒 度达到７４μｍ 以下，３．００ｇ样品称样量，３０ｔ压力压片的制样条件。 试验发现，压片时利用硼 酸镶边和硼酸衬底，不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题；利用经验 α 系数法校正基体效 应，校正后校准曲线的离散度较小，有效地消除了重叠谱线干扰。 各组分的检出限在 ０．４７～１８８．０８μｇ／ｇ之间。 对石灰石试样进行 精 密度考察，各 组 分 含 量 的 相 对 标 准 偏 差 （ＲＳＤ）在０．０４２％ ～５．７％ 范围内；对石灰石标准样品进行分析，各组分的测定值与认定值相符。 方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。关键词：Ｘ 射线荧光光谱法；石灰石；压片制样；多组分中图分类号：Ｏ６５７．３４；Ｐ６１９．２６＋３文献标志码：Ａ文章编号：１０００－７５７１（２０１４）０９－００３９－０４石灰石是炼铁和烧结的重要原料，其主要成分 ＳｉＯ２ 、ＣａＯ、ＭｇＯ、Ａｌ２Ｏ３ 、Ｆｅ２Ｏ３ 是 判 断 石 灰 石 质量的重要指标。 石灰石属于碳酸盐类岩石，其 特点是 ＣａＯ 含量高，其余组分相对都比较低。 石 灰石中的 ＳｉＯ２ 、ＣａＯ、ＭｇＯ 一般采用滴定法、光度 法等 化学分析方法进 行 测 定［１］，其 中 对 ＣａＯ、 ＭｇＯ 的测 定 多 采 用 滴 定 法，较 为 容 易，但 对 于Ａｌ２Ｏ３ 、Ｆｅ２Ｏ３ 等极 低 含 量 的 组 分 测 试 相 当 困 难。经典的化学分析方法操作相对繁琐、人为影响因 素多、劳动强度大、分析周期长，越来越不能适应 企业检测、生产的要求。 近年来，Ｘ 射线荧光光谱 法（ＸＲＦ）分析碳酸盐中的主次量组分已有报道，度和精密度。 但是使用压片制样能够进一步提高检测速度，在精度范围允许的情况下，能够使石灰 石检测的速度和精密度有效结合。 本文就是保证 精密度的情况下，选择压片制样，采用 ＸＲＦ 对石 灰 石 中 １０ 种 组 分 （ＣａＯ、ＳｉＯ２ 、ＭｇＯ、Ｆｅ２Ｏ３ 、ＡｌＯ ＭｎＯ ＴｉＯ Ｋ Ｏ、Ｎａ Ｏ、ＳｒＯ）进行检测。３ 、、２ 、 ２ ２２实验部分仪器及工作参数ＡｘｉｏｓＰＷ４４００Ｘ 射 线 荧 光 光 谱 仪 （荷 兰 帕１１．１纳科 公 司）：端 窗 薄 铍 窗 铑 靶 Ｘ 射 线 管，功 率 ４ｋＷ，ＳｕｐｅｒＱ４．０ Ｈ 操作软件；ＳＬ２０１ 型半自动压 样机（上海盛力仪器有限公司）；３００型圆盘粉碎机（南昌 市 化 验 制 样 机 械 厂）；ＧＪ－１Ａ 型 振 动 磨 矿 机（南昌市化验制样机械厂）。元素测量条件见表１。多为对石灰石中 ＳｉＯ２ 、ＣａＯ、ＭｇＯ 含量 的测定。 随着仪器分析方法的不断更新，Ｘ 射 线 荧 光［２－５］光谱分析的石灰石中组分逐渐增多［６－１１］。 这些报道中，有的采用熔融法［２－３，６－９］制 样，有 的 采 用 压 片 法［４－５，１０］制样，有的则针对不同组分分别采用熔融 法和压片法［１１］制 样。 熔融制 样 相对于压片制样 能有效消除样品的不均匀性、化学态效应、粒度效 应，降低元素 间 吸 收－增 强 效 应，提 高 方 法 的 准 确试剂硼酸（分析纯）。制样方法将经干燥的石灰石样品先用圆盘粉碎机破碎１．２１．３２ ｍｉｎ，然后用振动磨矿机磨２～３ｍｉｎ，样品粒度达收稿日期：２０１４－０２－１９作者简介：吕善胜（１９８２－ ），男，工程师，主要从事 Ｘ 射线荧光光谱分析工作；Ｅ－ｍａｉｌ：ｌｖｓｈａｎｓｈｅｎｇ＠１２６．ｃｏｍ＊ 通讯联系人：徐金龙 （１９７６－ ），男，高 级 工 程 师，硕 士，主要从事化矿金检测分析及质 量 控 制 工 作；Ｅ－ｍａｉｌ：ｘｕｊｉｎ－ｌｏｎｇｃｃｃ＠１６３．ｃｏｍ——３９Ｌ Ｓｈａｎ－ｓｈｅｎｇ，ＸＵＪｉｎ－ｌｏｎｇ，ＴＩＡＮ Ｑｉｏｎｇ，ｅｔａｌ．Ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆｍｕｌｔｉ－ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓｉｎｌｉｍｅｓｔｏｎｅｂｙＸ－ｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ．ＭｅｔａｌｌｕｒｇｉｃａｌＡｎａｌｙｓｉｓ，２０１４，３４（９）：３９－４２到７４μｍ 以下，粒度是否达到要求以过２００目筛为准。过筛后称取３．００ｇ样品（精确至０．１０ｇ），在自动压样机上用硼酸镶边，硼酸衬底以３０ｔ压力压成 样片进行测试，保 压 时 间 ３０ｓ。