基本测试原理leakge test.ppt

Leakage Test Method Leakage 定义: Leakage 通常指漏电流之现象,某种意义上与Short 的状况类似,也分单根Pin Leakage (对地或对电源Pin),也分Pin to Pin 的Leakage,只是Short 出现时基本上单Pin与Short 的部分不存在阻抗,但Leakage 指相连的两部分有一定阻抗的状况导致分流 Leakage 测试方法 Input Pin Leakage : 对电源Pin Leakage IIH , 对地Pin Leakage IIL Input Signal Pin Leakage: Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH , Pull-Down Pin 对地Pin Leakage IIH ,GAMMA Leakage 测试是Pull Up/Down 两种测试方法的结合 Output Pin Leakage:对电源Pin Leakage IOZH , 对地Pin Leakage IOZL Input Pin Leakage Test(对电源Pin /对地/Pin to Pin) Input Leakage 电路模拟(IIL) (对电源Pin /对地) IIL测试被测Pin 接地,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流) 当被测Pin与电源Pin有阻抗且小于525KΩ时电流小于 -10uA,一般测试SPEC 为 -10uA Input Leakage 电路模拟(IIL) (Pin to Pin) 被测Pin 接0V ,其他 Input 接 5.25V = VDD , 出现 Pin to Pin 的Leakage 时仍然会出现量测值 -10uA的状况(阻抗小于525KΩ状况) Input Leakage 电路模拟(IIH) (对电源Pin /对地) IIL测试被测Pin 接 5.25V,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流) 当被测Pin与地有阻抗且小于525KΩ时电流小于 -10uA,一般测试SPEC 为 -10uA Input Leakage 电路模拟(IIL) (Pin to Pin) 被测Pin 接5.25V ,其他 Input 接 0V , 出现 Pin to Pin 的Leakage 时仍然会出现量测值 -10uA的状况(阻抗小于525KΩ状况) Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH 上拉Pin 是在IC 内部被测Pin 与电源Pin 间本来就有固定阻值的电阻,如下图:被测试Pin 与电源Pin 间有 200KΩ的阻抗,正常测试的结果电流大约在-26uA,当Pin对电源Pin Leakage 时会出现电流变小的状况 -30uA Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH 当 Leakage 阻抗在1KΩ时,电流出现变化由-26uA--5.28mA,SPEC 设定为 -30uA Pull-Down Pin 对电源Pin Leakage IIH 当 Leakage 阻抗在1KΩ时,电流出现变化由26uA-5.28mA,SPEC 设定为 30uA GAMMA Leakage 测试 GAMMA Pin 结构是在两根GAMMA Pin 间都有不同Ratio 的阻抗造成GAMMA Pin 电压不同,用于灰阶计算,GAMMA Pin Leakage 测试为Pull Down/Up Leakage 测试的结合 Output Leakage 测试(IOZL/IOZH) Output Leakage 测试的测试方法基本与Input Leakage 方式一致，只是Input Pin 中控制输出的Signal Pin需要设置成IC 处于Output 输出的状态，例如：TP1 Fixed H *. 基本测试原理(leakge test) *. 基本测试原理(leakge test) 被测Pin无异常模拟电路 被测Pin与电源Pin出现阻抗模拟电路 被测Pin无异常模拟电路 被测Pin与电源Pin出现阻抗模拟电路 *. 基本测试原理(leakge test)