wdxrf和edxrf在我国土壤岩石分析中的应用-地质学刊.pdfVIP

１５９—１６８，２０１３ 地　 质　 学　 刊 第３７卷　 第１期 ｄｏｉ：１０．３９６９／ ｊ．ｉｓｓｎ．１６７４⁃３６３６．２０１３．０１．１５９ ＷＤＸＲＦ和ＥＤＸＲＦ在我国土壤岩石分析中的应用 黄光明，侯鹏飞，江　 冶，肖　 灵，张　 梅，张培新 （江苏省地质调查研究院，江苏 南京 ２１００１８） 摘要：介绍了２０世纪８０年代末以来ＷＤＸＲＦ和ＥＤＸＲＦ在我国土壤岩石检测领域的应用情况，包括样品的前处理 中的薄样制样，粉末压片法制样和溶融法制样３ 种主要的样品前处理技术，同时介绍了样品基体效应、元素间吸 收－增强效应、谱线干扰的处理方法，简单介绍了便携式荧光仪在土壤、岩石分析中的应用以及Ｘ射线荧光仪及其 测定技术的应用发展。 关键词：ＷＤＸＲＦ；ＥＤＸＲＦ；土壤；岩石；分析 中图分类号：Ｏ６５７３４；Ｐ５７５　 　 　 文献标识码：Ａ　 　 　 文章编号：１６７４－３６３６（２０１３）０１－０１５９－１０ 法通常有化学前处理制样（薄样技术）、粉末压片制 ０　 引　 言 样和熔融制样几大类型。 １１　 化学前处理制样（薄样技术） 自１９４８ 年弗利德曼 （Ｆｒｉｅｄｍａｎ）和伯克斯 前处理制样就是将试样用不同的方法分解，通 （Ｂｉｒｋｓ）首先研制了第一台商品性的波长色散Ｘ射 过一定的方法分离富集后，用特殊载体制成薄样，波 线荧光（ＷＤＸＲＦ）光谱仪（吉昂等，２００３）以来，Ｘ射 长色散Ｘ射线荧光光谱仪进行测定的分析技术。 线荧光光谱仪和Ｘ射线荧光光谱分析技术一直在 刘德慧（１９９０）采用汞型活性碳纸薄试样片 发展。 我国Ｘ射线荧光光谱分析技术的建立始于 （Ｈｇ）·ＡＣＰ测定地质试样中痕量碘，由于样片基体 ２０世纪５０ 年代末６０ 年代初，经过引进、消化、吸 成分简单、纯净（少量纤维素和高纯活性碳），因此 收、开发等一系列过程，Ｘ射线荧光光谱分析应用技 背景低，无需作克服基体影响的校正。 １ｇ试样测定 术有了长足的发展。 目前，我国Ｘ射线荧光光谱分 限可达０２５ μｇ／ ｇ。 析技术的基础研究、应用研究和仪器制造方面都取 李敏等（１９９２）研究了用 １０％ Ｎ （甲基三烷 ７４０２ 得了可喜的进展。 长期以来，我国学者主要从事波 基氯化铵）⁃ＭＩＢＫ （甲基异丁基酮）萃取预富集，测 长色散谱仪方面的工作，直到２０ 世纪８０ 年代才引 定岩石、土壤中Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｃｄ、Ｍｏ、Ｂｉ、Ｓｎ等痕量元 进能量色散谱仪。 因此，涉及到波长色散Ｘ射线荧 素的方法，选Ｓｍ作内标，检出限较直接粉末压片法 光光谱分析的研究领域更多一些。 约降低 ２ 个数量级。 ８ 个分析元素中，ＰｂＬ 与 β 笔者从实际应用的角度出发，对２０ 世纪８０ 年 ＢｉＬ ，ＣｄＫ 与ＳｎＫ 间有不同程度的干扰。 Ｐｂ 与Ｂｉ β α α 代末以来波长色散型Ｘ射线荧光仪（以下简称“波 及Ｃｄ与Ｓｎ含量相差很大时，需用干扰系数法进行 谱仪”）和能量色散型Ｘ射线荧光仪（以下简称“能 校正，即用一组含干扰元素而不含分析元素的试 谱仪”）在我国土壤分析中的应用作了简单介绍。