光伏组件封装材料和PID的关系初探-SEMIORG.PDF

台灣海優威新材料股份有限公司 Taiwan HIUV New Materials Corporation   光伏組件封裝材料和 PID 的關係初探 上海海優威電子技術有限公司 李民 江陰俊鑫科技股份有限公司 朱堅武 曹曉東 前言 目前無論從生產方還是使用方，對晶體矽電池片的極化效應（PID）的關注越來越多。 2011 年 7 月 NREL 在其發表的文章《System Voltage Potential Induced Degradation Mechanisms in PV Modules and Methods for Test》中對 PID 進行了詳細的說明 （1） 。目 前 PID 現象已被更多的人所瞭解，並有越來越多的研究機構和元件製造商對其進行了深入的 研究和發表文章。PID Free 被許多元件廠和電池廠作為賣點之一，許多光伏元件使用者也開 始只接受 PID Free 的元件。但真正引起 PID 的原因和如何避免，並沒有統一的定論。 PID 的表現 目前的實驗結構和光伏元件製造商較多採用以下兩種測試方法，對元件的 PID 效應進行評估： 1. 在 25℃的溫度下，在元件玻璃表面覆蓋鋁箔，1000V 直流電施加在元件的輸出端和鋁框 上 168 小時。 2. 元件先進性 85%的濕度 85℃高溫測試，然後在 60℃或 85℃的環境下 100 小時，將 1000V 直流電施加在元件輸出端和鋁框上 100 小時。 較多的 PID 衰減被發現發生在實驗 2 的老化以後，根據目前的報導和實驗結果發現 PID 現象 與玻璃、電池和膠膜的關係較大。 目前使用於光伏元件的玻璃是含鈉離子的玻璃。有文獻報導，在高溫高濕情況下矽酸鹽玻璃 表面會有堿析出，主要成分是 Na2O。 （2） 當把玻璃更換成石英玻璃後，在同樣的測試條件 （1） 下，沒有 PID 現象被發現。 膠膜也被發現對 PID 現象有非常密切的關係。使用 EVA 或 PVB 封裝的元件都被發現在濕熱 （3） 老化非常容易產生 PID 現象。 其測試方法是在 85%濕度 85℃下在元件表面覆蓋銅箔並連 接 200V 的正極，電池連接負極。48 小時後即發現電池效率大幅度衰減。    TEL: (04)2358-8875 FAX: (04)2358-8871 Email ：service@hiuv.net.tw  地址: 台中市南屯區精科七路 12 號(40852)  Add: #12 Jing Ke 7 Road, Taichung City, Taiwan [光伏組件封裝材料和 PID 的關係初探]   1 / 5  台灣海優威新材料股份有限公司 Taiwan HIUV New Materials Corporation   表 1 封裝材料與 PID（3） 電池起始 電池 48 小時 材料