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应 用 笔 记
AN018 用过采样和求均值提高 ADC 分辨率
相关器件
本应用笔记适用于下列器件
C8051F000 C8051F001 C8051F002 C8051F005 C8051F006 C8051F010 C8051F011
C8051F012 C8051F015 C8051F016 C8051F017
引言
很多应用需要使用模 / 数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动
态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外 ADC
然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和 SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方
法来提高模数转换的分辨率和 SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外 ADC 的情况下提
高测量分辨率
本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模 / 数转换 ADC 测量的分辨率 另
外 本文最后的附录 A B 和C分别给出了对 ADC 噪声的深入分析 最适合过采样技术的 ADC 噪声
类型和使用过采样和求均值技术的示例代码
关键点
可用过采样和求均值技术提高测量分辨率 不必采用昂贵的片外 ADC
过采样和求均值对 SNR 和测量分辨率的改善是以增加 CPU 时间和降低数据吞吐率为代价的
对于白噪声的情况 过采样和求均值可以改善信噪比
采样
频率 (fs) e[n]( 噪声 )
输入信号 过采样和平均
x(t) n位 x[n] x[n]+e[n]
OSR (n+w) 位
ADC 输出数据
低通滤波器 降采样
( 软件累加和转储)
图 1. 用过采样和求均值使测量分辨率增加 W 位
AN018 用过采样和求均值提高 ADC 分辨率
数据转换器噪声源
ADC 转换时可能引入很多种噪声 例如 热噪声 杂色噪声 电源电压变化 参考电压变化
由采样时钟抖动引起的相位噪声以及由量化误差引起的噪声 由量化误差引起的噪声通常被称为量
化噪声 这些噪声源的噪声功率是可以变化的 有很多技术可用于减小噪声 例如 精心设计电路
板和在参考电压信号线上加旁路电容 但是 ADC 总是存在量化噪声 所以一个给定位数的数据转
换器的最大 SNR 由量化噪声 不使用过采样技术时 定义 在正确的条件下 过采样和求均值会
减小噪声和改善 SNR 这将有效地提高测量分辨率的位数 图 1 所示的系统可以用 Cygnal 的片内
ADC 和一个软件子程序来实现 软件程序先采样一组样本
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