结构光照明显微中的偏振控制.PDFVIP

结构光照明显微中的偏振控制 赵天宇 周兴 但旦 千佳 汪召军 雷铭 姚保利 Polarizationcontrolmethodsinstructuredilluminationmicroscopy ZhaoTian-Yu ZhouXing DanDan QianJia WangZhao-Jun LeiMing YaoBao-Li 引用信息Citation: ActaPhysicaSinica, ,148704(2017) DOI: 10.7498/aps.66.148704 在线阅读Viewonline: /10.7498/aps.66.148704 当期内容Viewtableofcontents: /CN/Y2017/V66/I14 您可能感兴趣的其他文章 Articlesyoumaybeinterestedin 表面等离激元结构光照明显微成像技术研究进展 Researchprogressofplasmonicstructureilluminationmicroscopy 物理学报.2017,66(14): 148701 /10.7498/aps.66.148701 基于累积量标准差的超分辨光学涨落成像解卷积优化 Deconvolution optimization in super-resolution optical fluctuation imaging based on cumulant standard deviation 物理学报.2016,65(19): 198701 /10.7498/aps.65.198701 基于法布里-珀罗调谐滤波器的傅里叶域锁模扫频激光光源 FiberFabry-PerottunablefilterbasedFourierdomainmode locking swept laser source 物理学报.2013,62(6): 068703 /10.7498/aps.62.068703 物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 66, No. 14 (2017) 148704 专题: 电磁波衍射极限 结构光照明显微中的偏振控制 赵天宇 周兴 但旦 千佳 汪召军 雷铭 姚保利 1) (中国科学院西安光学精密机械研究所, 瞬态光学与光子技术国家重点实验室, 西安 710119) 2)(中国科学院大学, 北京 100049) ( 2017 年5 月16 日收到; 2017 年6 月13 日收到修改稿) 结构光照明显微(structured illumination microscopy, SIM) 作为一种宽场超分辨光学显微成像技术, 具 有成像速度快、光漂白和光毒性弱等优点, 是目前主流超分辨成像方法之一. 在SIM 技术中, 正弦强度分布 的条纹结构光场的对比度决定了SIM 超分辨图像的质量. 低的条纹对比度将导致样品中超衍射极限的高频 信息被噪声掩盖, 从而无法解析出超分辨信息. 结构照明入射光的偏振态调控决定了干涉条纹的对比度, 是 SIM 的关键技术. 鉴于此, 本文总结对比了几种典型的SIM 系统偏振控制方法, 同时提出了一种使用零级涡 旋半波片的偏振控制方法. 实验证明, 与其他方法相比, 采用零级涡旋半波片法可以获得更高效的偏振控制 效果, 具有系统结构简单、易使用、可将光能利用率提升到接近100% 的优点. 关键词: 结构光照明显微, 超分辨, 偏振控制, 零级涡旋半波片 PACS: 87.64.M–, 87.64.kv DOI: 10.7498/aps.66.148704 depletion microscopy, STED) 45 、光激活定位显 1 引 言 微技术(photo-activation localization microscopy,