材料分析测试方法黄新民版一单元+X射线物理基础教程.pptVIP

第一章 X射线物理学基础 二、 质量吸收系数 1、质量吸收系数 μm＝μ/ρ，称为质量吸收系数，单位为cm2／g。 μm的物理意义：表示单位质量物质对X射线的衰减程度。 第一章 X射线物理学基础 μm的特点： ①对一定波长的X射线和一定的物质来说，μm为固定值。 ②μm与物质的物理状态无关。即与物质的气态、液态、粉末、块样、化合物、混合物等均无关。 2、复杂物质的质量吸收系数 ωi、 μmi分别为各组元的质量百分数和质量吸收系数。 第一章 X射线物理学基础 3、吸收限 吸收限：在μm～λ关系曲线中，质量吸收系数随着入射X射线波长的变化产生突变，突变处对应的波长称为吸收限。 用途：利用物质对X射线吸收存在吸收限这一特性，可以设计滤波片材料以便选择性地吸收某种辐射。 第一章 X射线物理学基础 为什么存在吸收限？ 入射光子能量大于吸收体某层电子结合能时，很容易被电子吸收，内层电子溢出而产生光电效应。此效应消耗大量能量，表现为吸收系数突变。 如存在λK 、λL等 。 第一章 X射线物理学基础 λK值决定于吸收物质的原子结构。不同元素的吸收限值不同。 原子序数愈大，同名吸收限波长值愈短。 对同一物质而言， 第一章 X射线物理学基础 利用阳极靶材的吸收限（激发限）λK，可以计算的靶材的激发电压UK： 式中，UK以V为单位。 第一章 X射线物理学基础 4、μm与波长λ和原子序数Z的关系 一般X射线强度减弱主要由吸收作用造成，而散射作用极小。 物质对X射线的吸收可以近似用质量吸收系数μm的大小来表示。 μm与λ和Z存在如下函数关系： 系数K在两个吸收限之间为常数，不同吸收限之间的K值不同，且每一元素都有一组K。 公式讨论： ①物质的原子序越大，对x射线的吸收能力越强； ②对一定的吸收体，x射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数μm的下降。但随波长的降低，在某些波长位置上出现吸收限。 第一章 X射线物理学基础 第一章 X射线物理学基础 第六节 吸收限的应用 吸收限的应用主要有两个：选滤波片和选靶材。 一、选滤波片 1、滤波片的作用 在一些衍射分析工作中，我们需要尽可能接近单色的X射线。 获得单色X射线的方法之一是滤波，即在混合X射线出射的路径上放置一定厚度的滤波片，简便地将Kβ和连续X射线衰减到可以忽略的程度，使X射线单色化。 第一章 X射线物理学基础 2、滤波片的选择 原理：以靶材发射的X射线谱为基准，利用某种材料的λK刚好位于靶材的Kα和Kβ特征X射线之间时，能量较高的Kβ成分因能激发滤波片的K系荧光而被大部分吸收掉，而能量较低的Kα成分因不能激发滤波片的K系荧光被吸收的程度较小。 方法：滤波片的λK应位于靶物质Kα与Kβ之间。 规则： Z靶＜40时，Z滤＝Z靶-1； Z靶＞40时，Z滤＝Z靶-2 第一章 X射线物理学基础 3、滤波片厚度的计算 滤波片厚度要适当，以Kα辐射减弱约50%为宜。 在滤波片材料选定之后，可按需要的衰减比用公式（1-14）计算滤波片的厚度。 第一章 X射线物理学基础 二、阳极靶材料的选择 在X射线衍射晶体结构分析工作中，不希望入射X射线激发出样品的大量荧光辐射。以降低衍射花样的背底，使图样清晰。 选择阳极靶材料，让靶材产生的特征X射线波长偏离样品的吸收限。 靶材的选择是根据样品来定的，原则： Z靶≤Z样+1；或Z靶Z样。 对于多元素的样品，原则上是以含量较多的几种元素中最轻的元素为基准来选择靶材。 第一章 X射线物理学基础 ④对同一靶材，不同管压、管流下的连续谱的变化规律。 U管升高，各辐射强度升高，λ0和 λmax （最大辐射时的波长）均减小； 解释：当加大管压时，击靶电子的动能、电子与靶材原子的碰撞次数和辐射出来的X射线光子的能量都会增加，因此随管压的增加，各波长X射线的强度均增加。 管电压不变时，随管电流的升高，各辐射强度均升高，但λ0和λmax保持不变。 不同的靶面物质发射的连续谱具有相似的特征 第一章 X射线物理学基础 二、特征X射线谱 1、定义 当U管超过某临界值后，叠加在连续谱上的强度很高且具有一定波长的X射线谱，称为特征X射线谱，简称特征谱。 如钼靶X射线管，当管电压等于或高于20kV时，则除连续谱外，位于一定波长处（0.063nm和0.071nm）,叠加有少数强谱线。 第一章 X射线物理学基础 2、特点 ①产生特征X射线的条件：管电压超过与靶材相应的某一特定值UK； ②对一定的靶材，特征X射线波长为一定值。 ③ λKαλKβ,且同一元素对应谱线的强度比大约为5：1。 第一章 X射线物理学基础 3、对特征谱的解释 ① 特征谱的产生以及特征X射线波长为一定值的原因 从