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实 验 报 告 Experiment report 名称：AAP149芯片评估报告 Theme：Assessment report for AAP149 Microphone Chips 报告人: 王俊、施祖建 日期: 2011.3.21 writor of the report: (王俊)、 (施祖建) date：March 21th 2011 审核: Review 日期: date 实验目的：验证AAI AAP149芯片的性能。 Obiective: Experimental Validation of AAIAAP149 Chips performance 实验结论：Test conclusion 验证参数Test parameters: ：AAI AAP149芯片的GAIN、THD+N、PSR、Noise、及成品数麦的降压特性和频响曲线等参数。 THD + N, GAIN, PSR, Noise of AAIAAP149 chip, and characteristics frequency response curve of digital microphone, etc. 实验测试仪器： Bk3010，AP2722。 Test equipment: 实验步骤：Test step: 外观检测；Appearance Test 2、芯片贴装实验; Mounting test of chip; 单体制作；Bare production 样品性能测试；Samples performance test； 可靠性试验reliability test 实验数据： 外观检测 Appearance test 包装方式为Tape包装，可采用SMT设备进行贴装。 Packing method are Tape and can be use SMT equipment to mounting. Packaging figure包装图： 单体芯片图 Bare chip figure： 结论：合格。Conclusion: qualified 芯片外观无破损，背部Marker点清晰完整； Chip’s appearance has not damaged and the back”Marker” ’spoints are clear and complete 单体制作信息 1、单体生产基本情况Monomer production’s basic situation 生产场地：17栋1F样品组车间Production site: 17 building 1F sample group workshop， 1.1、AAP149芯片单体主要信息Chip monomer main information ： 开始时间 Start time 结束时间 end time 投入数量 Investment amount 产出数量 Output quantity 合格品数 Qualified number 不良品数 Unqualified number 2011-02-13 2011-02-16 507 507 164 11 1.2、设备信息equipment information 设备名称 设备编号 参数条件 极化仪 1F样品组 高压：-14KV，低压：-520V； 极化时间：7分钟，极化温度：常温。 电位计 1F样品组 210-240V 卷边机 单头卷边机，高度2.2mm 测试仪 Bako 3010 3.3V, 2.4MHz 烘箱 HX-02 老化时间：1小时，老化温度：120 ℃ 1.3、极化信息Polarization information： 要求电位Requirements potential： 230 ～ 260 V，实际抽测平均电位 249 V（4个角和中间各2PCS） 序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 平均 电位（V） 225 224 237 211 232 240 228 218 235 224 235 2、单体测试结果monomer test results： 2.1、AAP149芯片单体： AAP149 Sensitivity Qty -19～-20dB 1 -20～-21dB 17 -21～-22dB 113 -22～-23dB 199 -23～-24dB 84 -24～-25dB 59 -25～-26dB 19 -26～-27dB 4 Dead Mic 11 TTL 507 2.2、不良分析Bad analysis： 2.2.1、11PCS死咪，用BK3560C测试