第八章 光学系统的像质评价和像差公差.ppt

在物的频谱面F上放一个高通滤波器（玻璃片中心镀个不透明的斑），挡掉0级和低频成分，从而突出轮廓亮度 —— 形成亮的镶边。 高频滤波和轮廓突出 F 大头针 L P1 P2 扩束 亮边 第五节 其他像质评价方法 已介绍的像质评价方法： 所有的像质评价方法，都可归结为基于几何光学的方法和基于衍射理论的方法两大类。 瑞利判断和中心点亮度方法，要求严格,仅适用于小像差系统; 分辨率和点列图方法，主要考虑成像质量的影响，仅适用于大像差系统，不适用于像差校正到衍射极限的小像差系统； 光学传递函数法，同时适用于大像差系统和小像差系统，但它仅考虑光学系统对物体不同频率成分的传递能力，也不能全面评价一个成像系统的所有性能。 因此，对任何光学系统进行像质评价，往往都需要综合使用多种评价方法。 下面简要介绍现代光学设计中常用的其他评价方法。 一、基于几何光学的方法 图8-11给出了三片型库克物镜的光程差计算实例。左边为子午面情况，右边为弧矢面情况。图中绘出了不同波长(由曲线虚实、深浅表示)、不同视场(从上到下三排分别为l、0.707和0视场)、不同孔径(由横坐标表示)的光线到达高斯像面时与近轴理想光线的光程差(纵坐标，单位为波长λ)。 计算机技术成熟以前，主要的像质评价方法都是基于几何光学原理，例如，通过近轴光路计算得到高斯像点位置及其他理想参数；通过实际光路计算获得各种像差值或绘制像差曲线等. 现代光学设计中，还经常使用两种基于几何光学的像质评价方法：光程差(Optical Path Difference)曲线和像差特征(Ray Abberations)曲线。 图8-11 图8-12为同一物镜的像差特征曲线计算实例。采用与光程差计算相同的表现形式，给出了不同波长、不同视场、不同孔径的光线到达高斯像面时偏离高斯像点的距离(纵坐标，单位为mm)。不难看出，这两种方法比单纯观察球差曲线、彗差曲线等能获得更多的信息，能帮助更全面地了解光学系统的成像质量，因此越来越受到重视。至于如何利用像差特征曲线，通过重新选择光阑位置、离焦、拦光等方法提高光学系统的成像质量，请参见第六章第八节。 图8-12 横坐标表示不同孔径 像质要求非常高的光学系统，其像差一般要校正到衍射极限，此时使用几何光学方法往往得不到正确的评价。例如，如果绘制其点列图，可能会出现弥散圆直径小于其波长的情况。因此，针对这一类系统，只有基于衍射理论的评价方法才能对其成像质量进行客观的评价。 二、基于衍射理论的方法 除了瑞利判断、光学传递函数等方法外，点扩散函数和线扩散函数也是基于衍射理论而得到广泛应用的像质评价方法。 点扩散函数：是指一个理想的几何物点，经过光学系统后其像点的能量展开情况； 线扩散函数：是指子午或弧矢面内的几何线，经过光学系统后的能量展开情况。 真实的点扩散函数和线扩散函数应该利用惠更斯原理（Huygens Method）进行计算，但是计算量太大，所以通常采用快速傅立叶变换(FFT)算法进行近似处理。 图8-13给出了一个点扩散函数计算实例，其中x、y方向为偏离中心(高斯像点)的距离，z轴则代表相对能量值。通过能量的集中或分散程度，很容易判断系统的成像质量，尤其是该像质是否与接收器像敏单元的大小相匹配。 y x z 图8-13 点扩散函数 图8-14给出了一个线扩散函数计算实例。实线为子午面情况，虚线为弧矢面情况。横坐标为偏离中心(子午焦线或弧矢焦线)的距离(单位为mm)，纵坐标为相对能量。通过能量的集中或分散程度，容易判断系统的成像质量。 图8-14 线扩散函数 实线为子午面情况 虚线为弧矢面情况 横坐标为偏离中心(子午焦线或弧矢焦线)的距离(mm) 上述所有像质评价方法，没有考虑材料特性、加工误差、安装误差对成像质量的影响。现代光学设计还必须在加工前对这些因素进行全面地评价和分析，以便模拟真实的成像效果。 三、其他需要评价的成像情况 ★ 材料方面，任何光学材料都有不同的光谱透过率、光学均匀性、气泡、热胀冷缩效应等，它们对成像质量有重要影响。 另外，任何透射介质的表面都会反射部分光能，被反射的光沿非期望路径到达像面后，会形成背景噪音，影响成像质量。 上述影响，可通过光路追迹进行模拟，故现代光学设计软件大多具备光谱分析、透过率分析、材质分析、杂散光分析功能. ★ 加工精度与安装精度，为避免出现对误差特别敏感的情况，应在设计阶段通过光路追迹进行仿真分析。例如，轻微改变某一个或几个折射面的曲率半径(模拟加工误差)，某一个或几个元件的位置(模拟安装误差)，观