CST50型冲击试样缺口投影仪的-说明书.docVIP

CST—50型 冲 击 试 样 缺 口 投 影 仪 使 用 说 明 书 仔细阅读本说明书，您一定受益匪浅！ 一、概述 随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法，目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械制造等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅式U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25mm±0.025mm）,故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的报废或合格两种截然相反的不同结局。为保证加工的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要质量控制手段，目前用光学投影放大检查是唯一切实可行，并能保证检查质量的方法。 CST—50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229—2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。 总之，本投影仪是广大冶金、锅炉压力容器、车船和工程机械制造及科研等部门理化试验室的必备专用设备。 该仪器还可用于机械零件的外型轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具检验、仪表元件和半导体器件的投影检测。 二、工作原理 本投影仪光源发出的光线经聚光镜照到被测物，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏上。 根据实际需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射形成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。 三、主要参数 投影屏直径 ：180mm 2、工作台尺寸 ： 方工作台尺寸：110×125mm 方工作台直径：90mm 工作台玻璃直径：70mm 工作台行程 ： 纵向：±10mm 横向：±10mm 升降：±12mm 工作台转动范围: 0～360° 仪器放大倍率：50X 物镜放大倍率： 2.5X 投影物镜放大倍率：20x 光源（卤钨灯）：12V 100W 电源： 220V 50Hz 8、外形尺寸：515×224×603mm 9、重量： 18kg 四、结构 CST—50型冲击试样缺口投影仪如图所示。 五、安装指南 1、打开包装箱后应首先检查在运输过程中有无碰撞损坏现象，应确保仪器完整无损。 2、本仪器应水平放置在没有振动的地方，用底脚螺钉调整仪器水平。 3、本仪器应在光线较暗的房间里使用。 4、本仪器的使用环境应避免灰尘，且应干燥，以防本仪器内的光学部件受潮发霉。 放置好仪器后，接上220V电源，打开电源开关，开关的指示灯亮,说明电源已经到达该仪器 六、操作方法 1）接通电源，电源开关指示灯亮,打开电源开关，工作指示灯亮,随后屏幕已有光栅,在待使用状态。 2）将被测试样放在工作台上，转动工作台升降手轮（图中的12），调焦至影像清晰，再调整工作台的纵、横向调节手轮，使已放大了50倍的试样V型（或U型）缺口投影图像与本仪器所提供的也已放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸比对，即可判断出冲击试样V型缺口的几何尺寸加工质量。 七、更换灯泡 当灯泡经长时间使用亮度降低或损坏后，需要更换新灯泡，应首先切断电源，再取下底板，就可看到内部,在一个白色的灯座上有个卤钨灯座,旋松卤钨灯座（白瓷）上二个螺钉，向上拔出灯泡，即可实现更换，更换后需按下面的方法重新调整照明系统。 照明系统的调整是把灯丝调正至光轴的中心，使投影屏上得到均匀照度。新出厂的仪器照明系统已经正确校正，一般不需调整，只有在仪器受到剧烈震动或更换灯泡时，使灯丝偏离光轴中心后才需调整。 调整方法： 1、取下后底板，打开电源开关。 2、在工作台上放一张白纸。 3、松开灯座正面滚花螺钉，调整光源后的大滚花手轮，即可调节灯丝中心高度，拉动大滚花手轮，可调节灯丝位于光轴水平中心位置，调节时应注意白纸上有均匀灯丝出现并基本居中，然后移开白纸，观察投影屏照明是否均匀，如此反复至均匀。 旋紧滚花螺钉，固定灯座，照明系统调整结束。 八、注意事项 1)本仪器出厂时已经严格检查合格，在储运中不出意外，抵达用户处均可正常工作，使用时请勿调整仪器。 2)安置仪器的工作环境应保持清洁，避免有害气体、灰尘和油雾。工