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第14讲 5.1-5.2节集成运算放大电路的特点与技术指标
* * 第五章 集成运算放大电路 5.1 集成放大电路的特点 5.3 集成运放的基本组成部分 5.4 集成运放的典型电路 5.2 集成运放的主要技术指标 5.5 各类集成运放的性能特点 5.6 集成运放使用中的几个具体问题 一、集成电路的发展 下页 集成电路简称IC(Integrated Circuit), 是20世纪60年代初期发展起来的一种半导体器件, 它是在半导体制造工艺基础上, 将各种元器件和连线等集成在一片硅片上而制成的, 因此密度高、引线短、外部接线大为减少, 提高了电子设备的可靠性和灵活性,同时降低了成本, 为电子技术的应用开辟了一个新的时代。 上页 首页 5.1 集成放大电路的特点 人们经常以电子器件每一次重大变革作为衡量电子技术发展的标志。 将1904年出现的电真空器件称为第一代, 1948年出现的半导体器件称为第二代, 1959年出现的集成电路称为第三代, 1974年出现的大规模集成电路称为第四代。 随着集成工艺的发展,电子技术已经日益广泛地应用于人类社会的各个方面。 下页 上页 首页 二、集成电路的分类 下页 上页 1. 按功能的不同可分为 数字集成电路(输入量和输出量为高、低两种电平且具有一定逻辑关系的电路), 模拟集成电路(数字集成电路以外的集成电路统称为模拟集成电路)。 2. 按模拟集成电路的类型可分为 集成运算放大器、集成功率放大器、集成高频放大器、集成中频放大器、集成比较器、集成乘法器、集成稳压器、集成数模和模数转换器以及锁相环等。 3. 按构成有源器件的类型可分为 双极型和单极型。 首页 集成电路的外形 集成电路的外形 (a)双列直插式 (b)圆壳式 (c)扁平式 三、集成电路的特点 参数精度不高,受温度影响较大,但对称性好。 电阻值范围有一定局限性,一般在几十欧到几十千欧之间。 常用三极管代替电阻,尤其是大电阻。 集成电路工艺不适于制造几十皮法以上的电容器,放大级之间通常采用直接耦合方式。 集成电路中的 NPN 、 PNP管的 ? 值差别较大,通常 PNP 的 ? ≤ 10 。 上页 首页 一、 集成运放的符号 A + - U- U+ Uo 下页 下页 由于集成运放的输入级通常由差分放大电路组成, 因此一般具有两个输入端和一个输出端。 反相输入端 输入信号与输出信号的相位相反 同相输入端 输入信号与输出信号的相位相同 输出端 开环放大倍数 上页 首页 5.2 集成运放的主要技术指标 二、 集成运放的主要技术指标 1. 开环差模电压增益 Aod 它的定义是Aod = 20lg ΔUo ΔU- - ΔU+ 下页 下页 Aod是指运放无外加反馈情况下的直流差模增益,一般用对数表示,单位为分贝。 Aod是决定运放精度的重要因素,理想情况下希望Aod为无穷大。 实际集成运放一般Aod为100dB左右, 高质量的集成运放Aod可达140dB以上。 上页 首页 差模电压:输入电压vi1和vi2之差。 Vid= vi1- vi2 共模电压:输入电压vi1和vi2的算术平均值。 2. 输入失调电压 UIo 3. 输入失调电压温漂 αUIO dUIo dT 它的定义是αUIO = 下页 下页 UIo的定义是,为了使输出电压为零,在输入端所需要加的补偿电压。 其数值表征了输入级差分对管UBE失配的程度,在一定程度上也反映温漂的大小。 一般运放UIo的值为1~10mV,高质量的在1mV以下。 表示失调电压在规定工作范围内的温度系数,是衡量运放温漂的重要指标。 上页 首页 4. 输入失调电流 IIO 5. 输入失调电流温漂 αI IO 即IIO = IB1 - IB2 dIIo dT αI IO的定义是αIIO = 下页 上页 IIO的定义是当输出电压等于零时,两个输入端偏置电流之差, 用以描述差分对管输入电流的不对称情况,一般运放为几十至一百纳安,高质量的低于1nA。 代表输入失调电流的温度系数。一般为每度几纳安,高质量的只有每度几十皮安。 首页 6. 输入偏置电流 IIB 即IIO = IB1 + IB2 1 2 下页 上页 IIB 是衡量差分对管输入电流绝对值大小的指标, 它的值主要决定于集成运放输入级的静态集电极电流及输入级放大管的β值。 一般集成运放的输入偏置电流愈大,其失调电流愈大。 IIB的定义是当输出电压等于零时,两个输入端偏置电流的平均值, 首页 7. 差模输入电阻 rid 8. 共模抑制比KCMR 9. 最大共模输入电压 UIcm Δ UId rid的定义是rid = Δ IId 集成运放输入端所能承受的最大共模电压。 它的定义是KCMR = 20lg Aod Acd 下页 上页 用以衡量集成运放向信号源索取电流的大小,一般为几兆欧。 用以衡量集成运放抑制温漂的能力。 首页 10. 最
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