POWERPOINT 演示文稿 - 原子发射光谱分析.pptVIP

3.4定性定量分析方法 一、基本概念 1.?灵敏线：一般是指一些激发电位低、强度 大的谱线，多是共振线 2.?最后线：或称持久线。当待测物含量逐渐 减小时，谱线数目亦相应减少，当元素含量 减至很小，最后仍然观察到的少数几条谱线， 称为元素的最后线。最后线一般是最灵敏线。 3.?分析线：在进行元素的定性或定量分析时， 所使用的灵敏线或最后线称为分析线。 4.?自吸线：当辐射能通过发光层周围的蒸汽原 子时，将被其自身原子所吸收，而使谱线中心强度减弱的现象。自吸产生的谱线称自吸线。 5.?自蚀线：自吸最强的谱线的称为自蚀线。 二、定量分析 前以述及，发射光谱定量分析关系式为： I = a c b 或者 log I = b log c + log a 由于实验条件(蒸发、激发、试样组成、感光板特性、显影条件等) 直接影响谱线强度，而这些影响很难完全避免，故以谱线绝对强度来定量往往带来很大误差。 实际工作中常以分析线和内标线的强度比来进行定量分析，以补偿这些难以控制的变化因素的影响。 内标法原理： 在待测元素谱线中选出一分析线；于基体元素(样品中的主要元素)或基体中不存在的外加元素中选一条与分析线均称的谱线作内标线。二者组成分析线对，以分析线和内标线绝对强度的比值与浓度的关系来进行定量分析。 内标元素及内标线的选择原则： 内标元素选择原则： 1）外加内标元素在分析试样品应不存在或含量极微；如样 品基体元素的含量较稳时，亦可用该基体元素作内标。 2）内标元素与待测元素应有相近的特性（蒸发特性）； 3）同族元素，具相近的电离能； 内标线（分析线对）： 1）分析线对激发电位应尽量相近，其蒸发行为相同； 2）分析线对的黑度值必须落在乳剂特性曲线的直线部分； 3）分析线对波长及强度接近，在其波长范围内反衬度值保持不变； 4）分析线对无自吸现象b=1，且不受其它元素干扰，背景应尽量小。 内标法公式： 设分析线和内标线强度分别为I，I0；浓度分别为c，c0；自吸系数分别为b, b0 二者之比可简化为: 取对数得： 当以相板为检测器时，该式变为：? S = S-S0 = ? b log c + ? log A 当以光电管为检测器时，该式为：? log U = log U – log U0 = ? b log c +? log A ?即以 ?S 或 ? log U 对 log c 作图，可制作标准曲线，并求得浓度值。 三、干扰来源及其消除方法 1. 背景干扰 由连续光谱或分子带光谱等所产生的谱线强度（或黑度）叠加于线状光谱上所引起的干扰。 也是噪音干扰的一种。 背景来源： a）分子辐射：在光源中，试样本身或试样与空气作用产生的分子氧化物或氮化物等分子发射的带状光谱，如CN，SiO2，OH等。 e）杂散光：仪器光学系统对一些辐射的散射，并通过 非预定途径直接进入检测器的辐射。 b）连续辐射：光源中炽热的固体物质发射的光谱， 如电极头、弧焰中的颗 粒物等。 c）谱线扩散：分析线周围有其它元素的强扩散线（宽谱 线），如高含量的Zn、Sb、Pb、Bi、Mg 和 Al 等。 d）复合辐射：电子与离子复合引起能量的变化所产生 的连续辐射。 如图所示 背景的扣除： ? 摄谱法（相板为检测器） ? 光电直读光谱法，谱线强度被直接积分，背景可用直接由带有自动扣背景的装置扣除。 注意：背景扣除不得用黑度直接相减 背景 分析线+背景 2. 基体干扰（Matrix interference） 基体：样品中除待测物以外的其它组份称为基体，基体对测定的干扰是非常复杂的。 为了消除或减少基体干扰，在光谱分析中，常常根据试样的组成、性质及分析的要求，选择性地加入具有某种性质的添加剂, 以改善基体特性，从而减少基体对测定的干扰，提高测定灵敏度或准确度。 减少基体干扰的方法： 光谱添加剂分为光谱载体和光谱缓冲剂。 1）光谱载体－多是一些化合物和碳粉 控制蒸发行为：通过高温化学反应，将样品中难挥发性化合物（氧化物）转变为低沸点、易挥发的化合物（如卤化物等）。加入氯化物可使ZrO2，TiO2 及稀土化合物等转化为易挥发的氯化物。 控制电弧温度：较大量的载体或低电离电位元素可控制电弧温度。如Ga2O3可抑制U3O8的蒸发，从而使其中的杂质元素B、Cd、Fe、Mn 免受U3O8的干扰。 增加停留时间：大量载体的原子蒸汽可减小待测原子在等离子区的自由运动范围，从而增加了待测原子的停留时间，提高了分析灵敏度。 大量辅助物质的