物相分析实验原理.ppt

* X射线物相分析实验原理 姜 传 海 上海交通大学材料科学与工程学院 X射线的衍射现象 X射线在晶体中的衍射，实质上是大量原子散射波互相干涉的结果。 研究X射线衍射现象 ，可归结为两方面问题来讨论，即衍射方向和衍射强度。 衍射方向由晶胞大小、形状和位向决定，衍射强度主要与原子在晶胞中的位置有关。 拉格方程 衍射方向遵循布拉格方程 d 晶面间距，θ 入射线(或反射线)与晶面夹角，λ辐射线波长。 如果将布拉格方程改写为 对于固定波长λ，各 d 值晶面的反射线将有着确定的衍射方向。 对于固定波长λ，d 值减小则θ角增大，即间距较小的晶面其布拉格角必然较大。 考虑到 |sinθ|1 ，使得在衍射中的反射级数n或干涉面的间距d将会受到限制。 当面间距d一定时，λ减小的同时则 n 值可以增大。 对同一种晶面，当采用短波单色X射线照射时，可以获得多级数的反射效果。 布拉格方程的应用 用已知 λ 的X射线去分析未知试样，通过测量衍射角来求得试样中的晶面间距d 值，这就是常规衍射分析。 还可用已知晶体来反射从未知试样发射出的X射线，通过测量衍射角求得X射线波长λ，这就是X射线光谱学或称波谱分析。 衍射强度 布拉格方程只是解决了X射线的衍射方向问题，对衍射强度的描述却无能为力。 X射线照射到晶体后，在不同衍射方向上强度将发生变化。不但受晶体结构影响，而且与原子在晶胞中位置及原子种类有关。 晶体的衍射强度，归根结底是X射线受众多电子散射后的干涉与叠加结果。 在实际工作中，只需要了解各衍射线的相对强度，故衍射强度公式可简化为 V为被照射多晶材料体积 Vc晶胞体积 Phkl为(hkl)晶面多重因子 | Fhkl|2为(hkl)晶面结构因子 Lp为角因子或洛伦兹-偏振因子 A吸收因子 e-2M温度因子 衍射方法 与其它物理测试方法相比，X射线衍射是非破坏性的，实验结果准确可靠，真正代表检测区域的平均效果。 而且对试样没有太严格的要求，可采用粉末或块状试样，可直接对小型零件进行测量。 试样要求 可能是块状试样也可能是粉末试样，可能是晶体也可能是非晶体材料，可能是多晶也可能是单晶材料。 对块状试样的尺寸并没有严格的要求，但尺寸太小时衍射信号较弱。 块状试样无法避免晶面择优取向，必要时可对其相互垂直的三个表面分别进行分析。 对粉末试样的数量也没有严格要求，一般需要 20×18×0.5mm3 体积，但试样太少时衍射信号较弱。 对粉末试样粒度的要求是，一般定性分析时粒度应小于 40μm 即 350 目，定量分析时粒度应小于 10μm 。 比较方便的确定粒度方法是，用手指捏住少量粉末并碾动，两手指间没有颗粒感觉的粒度大致为10μm。 辐射光源 Cu靶用途最广，最佳管电压35～45kV 。 兼顾到分辨率与辐射强度，通常在衍射实验时选择为6o的取出角。 调节管电流来增加辐射线的功率，最大负荷(管流乘管压)不允许超过额定功率的80% 。 狭缝 包括发散狭缝(DS)、防散射狭缝(SS)以及接收狭缝(RS)。 在定性分析时，常选用DS 1o、 SS 1o和RS0.3mm。 扫描及记录 扫描范围与被测材料和实验目的有关。常规定性扫描范围为10o～90o。 一般定性分析允许使用较快的扫描速度，但定量分析则必须采用慢速扫描。 连续扫描是计数管转动的同时进行测量，阶梯扫描是计数管转到各角度后停留测量。 定性分析工作中一般是采用角度间隔0.02o的连续扫描。 实验误差 布拉格定律的微分式为 当Δθ 一定时，θ角越大则 |Δd/d | 越小。 误差Δθ 来源很多，如测角仪 2θ 的 0o 误差、试样表面离轴误差、试样吸收误差、晶粒大小误差、温度变化误差等。 物相分析 衍射谱线正如人的指纹一样，是鉴别物质结构及类别的主要标志。 国际上建立了相应的标准衍射卡片库，包含了许多标准物质晶面间距和衍射强度。 相分析与化学分析不同，前者是得到这些元素所构成的物相，后者是获得物质元素组分。 定性物相分析 由衍射仪确定各衍射峰值强度及衍射角，计算出晶面间距 d 及相对强度 I 值。 然后，定性分析的核心就是卡片检索，一般是由计算机来完成。 关于 d 和 I 值的偏差 由于试样和测试条件的差异，使 d 测量值与卡片上的标准值之间有