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ATS程式编程 2009-8-3 lei CHROMA 6000系统构架图 1、系统控制器-----电脑装置2、输入电源供应器。3、输出模块--------Switcher Analyzer4、特殊功能模块-----Extended Measurement Unit5、OVP/UVP电源供应器6、外框、测试台和交流稳压器等。 二、基本测试功能 7.Combine Regulation:用以量測在負載大小及輸入電源之電壓同時改變時，對於待測物輸出電壓所產生的影響 8.Turn on Seq. Test:用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出的時序關係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩定時間等特性。 9.Hold up Seq. Test:用以量測在關機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係，及穩定時間等特性。 10.OLPTest:用以量測在過載保護點瞬間待測物的輸性 11.OPP Test:用以量測在過功率保護點瞬間待測物的輸出特性。 12.Hold on Adjust:用以於測試中調整待測物的內部電路以達到正確的電壓輸出和電流輸出。 13.External Wave Test:用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。 14.Static Test:用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。 15.?Extra Timing Test:以外加信號控制待測物的輸出 Enable/Disable，並量測待測物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間等特性。 16.?Set Up Function:用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件。 17.?Extended Measurement TestL用以量測自選的特定點的直流電壓(Vdc)，或交流電壓(Vrms)。 18.?Short Circuit Test:用以量測待測物的一組輸出短路到地的整體輸出入反應特性。 19.??OVP/UVP Test:用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點。 20.Total Regulation Test:用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小，至最壞狀況時之輸出特性。 21.??Cycle Dropout:用以量測在中斷待測物輸入電源一段時間對輸出電壓的影響。 22.?Voltage Ramp Up/Down:用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響。 23.?Frequency Ramp Up/Down :用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響。 24.Noise Carry Through:用以量測在待測物輸入電源外加雜訊時對其輸出電壓的影響。 25.?Sync Dynamic2:在和Sync Dynamic Test相同測試過程中，量測輸出電壓因負載變動產生的spike值。 共用资料（General information)的编程 共用资料主要是对后面测试项目均要用的数据的输入。 第一面： 工程名称（MODEL NAME）是要输入要测试机种的名称。 输出组数（TOTA LOAD NUMBER)。 输入电压Min\Norm\Max的编程。 输入频率Min\Norm\Max的编程。 延迟时间(Delay Time) 、测量时间(Meas. Time)和输入电源中断时间（UUT OFF TIME）的编程。 第二面：主要是测试品正常负载和Va. 第三面：测量模式（I\R)以及其(I\R)模式Min\Norm\Max、其上升斜率　(slew rate)的编程。 第四面：开关分析仪的电压量程Vfs(V)、电压量测点 Meas (UUT/LD) 、Vdc Filter Hz)以及Von 的Min\Norm\Max的编程。 第五面：Vdc Noise Filter Hz\Vpp Min\Norm\Max\dV(+)Max的编程 延迟时间(Delay Time) 、测量时间(Meas. Time)的理解。 Vout Va T