材料分析与基础--第四章 X射线衍射方法.ppt

第四章 X射线衍射方法 主要内容： 4.1 粉末照相法 4.2 X射线衍射仪 根据Bragg条件：2dsinθ=nλ 可采用改变θ或λ来实现 改变λ或θ不同。有如下方法： 衍射方法 λ θ 适用试样 1.劳埃法 变 不变 单晶 （ 连续X线） 2.转晶法 不变 变 单晶 （单色X光） 3.粉末法 不变 变 多晶粉末 （照相法） （单色X光）（多晶不同 （衍射仪法） 晶面取向） 1）劳埃法：1912年劳埃首创，利用连续X射线照射样品，靠单晶晶面各自选择不同波长的X射线，满足2dsinθ= n λ，实现衍射 2）转晶法： λ不变，靠旋转单晶，连续改变θ，实现衍射。 3）粉末法：用单色X光（ λ一定），多晶试样（暗含θ变）选择，来实现衍射。此法应用最广。有（1）照相法（2）衍射仪法 4.1粉末照相法 1）德拜相机的结构（如图） （1）相机：环状，有φ57.3mm和 114.6mm （2）试样架：可绕轴旋转 （3）前后光阑：用于X射线对中 如射X射线从一侧通过前光阑照射样品透射出通过后光阑在CRT上得衍射斑点 2）德拜法成像原理 如图所示，一束单色X光照射样品当某一（hkl)晶面组符合Bragg条件时发生衍射。 （1）形成一个：以入射线为轴 以衍射线（2 θ方向）为母线 顶角为4θ 的衍射圆锥 （2）衍射圆锥将在环形底片上得一弧对 （对应着（hkl)晶面组的弧对用（hkl）标记 （3 ）不同 (hkl)值，得不同弧对。 因此，粉末晶体衍射的结果得出一系列的弧对。 3）底片安装方法： 正装，反装，和偏装法（不对称法） （1）正装法：底片中部有一孔洞，放于后光阑位置，衍射线呈对称弧对分布。低θ在中间，高θ在两边，衍射线对间距离s=4 θ.R ….. (θ:rad) (2)倒装法：底片安装与正装相反，衍射线对分布，低θ在两边，高θ在中间，衍射线对间距s=(2π-4 θ)R ….(θ:rad) （3）偏装法（不对称法）：底片上有两个孔，装在前后光阑低θ在右边，高θ在左边，衍射线对间距离: S/2W=4 θ/2 π, S=4 θ.W/ π 4)试样的制备 最常用的试样是圆柱状粉末集合体，圆柱直径小于0.8mm.粉末一般要经过玛瑙研钵研细，粒度在μm级 由粉末制成细圆柱状试样常用方法有： （1）在细玻璃丝上先涂胶水，或其他粘度剂，后粘粉末。 （2）将粉末装入玻璃管中 （3）直接用金属丝作试样。 5）衍射线强度的测定 （1）目测比较法： 一般定性分析要求不高时，可满足一般分析要求，将全部谱线与标准黑底片（黑度定为100%，即I）分成最强，强，中，弱，最弱。 （2）显微光度计（黑度计） 用黑度计可直读谱线的黑度值。 定义： （黑度）D=lgI0/I …(I0:入射光强度， I：透过底片的光强度） D越大，黑度越大，（底片感光越强），衍射越强。 4.2 X射线衍射仪 4.2.1衍射仪的结构和工作原理 测角仪构造: 测角仪核心,相当粉末法的相机 (1)样品台H位于测角仪中心,可以绕0轴旋转,0轴与台面垂直,试样C放于台上,与0轴重合,误差小于0.1mm (2)X射线源 由靶T发出,S也垂直于纸面,与0轴平行 (3)H转角θ时,支架转2 θ,X射线正好聚焦F,进入计数器G 下面是衍射图相的实例 4.2.2探测器（自学） X射线探测器主要有：气体电离计数器，闪烁计数器和半导体计数器 4.2.3试样制备（自学） X射线衍射仪分析中，粉末样品的制备和安装对衍射峰的位置和强度有很大的影响。样品可以是多晶的块，片或粉末。但以粉末最为适宜，原因同粉末照相法。粉末颗粒度要求更细，一般约为1—10 μm. 定量分析法时，要在0.1—2 μm，这是因为衍射仪中只有晶粒中（hkl）平行于试样表面时才对hkl衍射起作用。如果粒度不够小就不能保证有足够多的晶体参与衍射，如果粒度难以达到要求，可采用试样转动，平移或振动的方法补救……（“分析概论”P212） 习 题 四 思考题： 1.德拜法照相底片上的不同线对