小麦抗叶锈基因Lr44 的AFLP 分子标记.pdfVIP

第 28卷第 2期 河 北 农 业 大 学 学 报 Vo1．28NO．2 2005年 3月 JOURNALOFAGRICULTURALUNIVERSITYOFHEBEI M ar．2005 文章编号 ：1000—1573(2005)02 0067—04 小麦抗叶锈基因Lr44的AFLP分子标记 杨文香 ， 贾 璇 ， 闫红飞， 魏新燕， 刘大群， 孟庆芳， 张 汀 (河北农业大学 植物病理系 ，河北省农作物病虫害生物防治工程技术研究中心，河北 保定 071001) 摘要：利用AFLP技术借助于小麦抗叶锈近等基因系和TcLr44×Thatcher 代分离群体材料，获得 4个 Lr44 的分子标记，分别为Paag：Mcta3 Paac：Mcgt85，Paag：Mcta 和Paac：Mcgt~，与 目的基因的遗传距离分别为0．01 cM、1．1cM、3cM、2．2cM和2．8cM，为分子辅助育种 、构建密集的遗传图谱 、克隆Lr44以及研究基因编码特性 等奠定基础。 关 键 词 ：小麦叶锈病；抗病基 因；分子标记 ；AFLP；Lr44 中图分类号 ：S 432 文献标识码 ：A Identification ofAFLP markerslinked toLr44 resistanttowheatleafrust YANG Wen—xiang，JIA Xuan，YAN Hong—fei，WEIXin—yan， LIUDa—qun，MENG Qing—fang，ZHANG Ting (DepartmentofPlantpathology，AgriculturalUniversityofHebei，BiologicalControlCentreof PlantPathogensandPlnatPestsofHebeiProvince，Baoding071001，China) Abstract：FourmolecularmarkerslinkedtoLr44resistancetowheatleafrustatseedlingstagewere identifiedusingAFLP，near—isogeniclines(NII)andF2progenyfromacrossofThatcher，asus— ceptibleline，withLr44 NIL inThatcherbackground．Thegeneticmapshowedthatthedistances betweenLr44 andmarkers：Paag：Mcta30o，Paac：Mcgt85，Paag：Mcta395，Paag：Mcgt90was0．01 cM ，1．1cM ，3cM ，2．2cM ，and 2．8 cM ，respectively．Theidentification ofAFLP markers linkedtoLr44 facilitatesestablishmentofthehigherdensitygeneticmap，wheatmarker—assisted eslectionbreedingprogram andeventualcloningandcharacterizationofthegeneencodingresistance towheatleafrust． Keywords：wheatlaefrust；resistancegene；molecularmarker；AFLP；Lr44 利用小麦抗叶锈品种是减轻小麦叶锈病危害的 抗性基因库 ，从而避免含有单一抗源的品种的大面 经济 、有效、快捷 的方法。要充分利用小麦对叶锈菌 积推广。由于叶锈菌造成品种抗病基 因抗性不断 的遗传抗性