焊线机操作基础 别处转来.ppt

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*WIRE BONDING PROCESS的基礎 目錄  1.銲線的種類  2.結球銲線(BALL BONDING) 的操作  3.結球銲線的實際操作  4.Bonding用線材  5.Bonding用瓷嘴  6.銲線技術(製程技術)   附錄1.拉力測試時Pull位置的影響 附錄2.關於CRATERING 附錄3.關於電鍍 銲線機操作的基礎 1.銲線的種類 Ball Bonder Wedge Bonder 將半導體IC晶片上的接續電極與Package外部引出用端子之間,利用打線予以連接。將相連的金屬加熱,以熱或超音波振動、或熱+超音波振動,使其接合。 (源自於: SEAJ 半導體製造機台用語辭典) 此方式是以降低打線溫度為目的所開發而成。 為彌補因溫度低造成熱能減少,因此附加上超音波能量 打線溫度:300℃前後 打線溫度:100~200℃前後 低溫化 熱壓著TPC方式 使用Au線來銲線的技術,最早是在1950年代,由美國貝爾研究所的研究小組所確立,之後美國機台製造廠商開發手動式機台,將結球銲線的操作被實際應用,且普及的被採用至今。 Wedge Bonding 鋁Al、金Au線 BALL BONDING 金Au、銅Cu線 WIRE BONDING 超音波?熱壓著方式 熱壓著法與超音波?熱壓著法的比較 -接合要素之比較- -接合時所需的物理性効果比較- 較低 (200℃前後) 高 (300℃以上) 溫度 熱 荷重 超音波振動U.S. 超音波?熱壓著法 熱 荷重 銲針磨動VIB 熱壓著法 接合要素 項目 参考資料 優(超音波振動) 劣 原子密度差距(濃淡斜率)増大 劣(較低溫) 優 (高溫) 因温度使原子 擴散定數増大 優(超音波振動) (銲針磨動) 塑性變形増大 變形量増加 空孔密度増大 優(超音波振動) 超音波?熱壓著法 (銲針磨動) 熱壓著法 接合所需的物理性効果 2.銲線操作 ① 搜尋動作   在瓷嘴前端突出的線頂端形成金球,瓷嘴朝向1st銲點位置(PAD 表面)以低速(5mm/sec-20mm/sec)下降。 ② 1st銲點   瓷嘴碰觸到銲墊表面後,依静荷重、超音波振動及溫度,使金球被 壓著在銲墊表面上。 ③ 打線弧   1st銲點完成後,瓷嘴朝2nd銲點移動的過程中,瓷嘴上升約 5mm,釋出線弧形成時所需的金線長度。  ④-⑤ 線弧形成   接著在瓷嘴從最高點朝2nd銲點移動的過 程中,金線被瓷嘴吸入,連帶著多餘的線到 達2nd銲點。 ⑥ 2nd銲點   到達2nd銲點後,依静荷重、超音波振動 及溫度,使金線被壓著在LEAD表面。 ⑦ FEED UP線尾產生   2nd點銲線完成後,為了下次的打線時形 成所需的金球,既定的金線被釋出,上升 到SPARK的高度。 ⑧ 金球形成   瓷嘴上升至SPARK高度後,因放電而使金線 前端形成金球。 線弧形成 LEAD 搜尋動作 半導体晶片 ① 1st 銲點 ② 金線釋出 ③ 金線吸入 ④ ⑤ 金球形成 線弧軌跡形成 放電 形成金球 ⑧ 2nd 焊點 ⑥ FEED UP線尾產生 ⑦ ※無線弧控制之情形 3.結球銲線的實際操作手段 DIE BONDER DIE BONDER 導線架L/F /基板 接著劑 半導體晶片 烘烤 Ball Bonding 線 瓷嘴 打線技術 (製程技術) Ball BONDER (機台技術)    主要特徴 等上述極佳的化學、機械特性 ※本項資料、圖表等,自田中電子工業及日鉄MICRO METAL技術資料轉載 4.Bonding用金線 4-1 金線的主要特徴 在現今半導體組裝過程中超音波?熱壓著打線方式為Ball Bonding的主流,而金線是最適合且不可或缺的半導體DEVICE封裝材料。 在大氣中或水中,化學性安定,不會氧化 在金屬中,延展性最佳、於打線時可使用加工至直徑10~38μm  (MICOR METER:1/1000mm)的超細線 不易吸收氣體 對於熱壓著打線,硬度最合適 其機械性的強度可承受樹脂封膠壓力 僅次於銀、銅的高導電性 電阻比率(μΩ?cm)的比較 銀(1.6)<銅(1.7)<金(2.3)<鋁(2.7) 電氣傳導性(電流傳導容易)   影響金屬導電程度,也就是決定電子移動量的重要因素,包含金屬結晶中的自由電子數、金屬 結晶兩端的電位差、妨礙自由電子移動的阻抗等因素。   自由電子數,一般以1價的金屬最多、導電性高。   結晶中兩端電位差越大,自由電子數越多,導電性也越高。   電氣阻抗越小,則移動電子數越増加、導電性也越高。 自由電子  相對於不能與原子或分子相離太遠的束縛電子,自由電子可在真空或

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