电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响.PDFVIP

电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？ 链接：/tech/72161.html 来源：阳光工匠光伏网 电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？ 1.0绪论 近年来，单晶硅片供应商为了利益最大化，奉行只要单晶不掉苞就是好工艺。无位错拉晶工艺要求籽晶用无位错拉 晶切割，在拉晶过程中下种引颈长度要大于一个晶锭直径才能把位错排净，方可放肩。而现在引颈长度120-140mm完 全低于6吋直径150mm单晶。另外，单晶收尾时锅底料要保证是投料量的10%左右，现在单晶供应商恨不得把坩埚内 料全部拉完提尽。殊不知想多提走一点锅内料时，已造成坩埚内熔体过冷，一旦材料过冷必然掉苞。看起来完整收尾 ，实际早已掉苞，这样上返一个直径的单晶已是位错片。供应商把这些位错片完全轻而易举转嫁给用户。 2.0黑斑片 故红外相片中反映出黑心和黑斑。发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。 图1黑芯片(左)与黑斑片(右) 组件电性能测试如下图所示。由图可见，组件短路电流Isc（4.588A）和最大功率Pmax（143.028W）明显偏低；此 类正常组件短路电流Isc一般为5.2A，最大功率Pmax一般为175W以上。说明组件中存在着大量低效率电池片，导致组 件功率的严重下降。 图2组件电性能和EL测试 对电池片进行电致发光EL测试，如下图3和4所示。其黑心和黑斑现象如组件EL测试所见。 电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？ 链接：/tech/72161.html 来源：阳光工匠光伏网 图3 样片1EL 测试 图4 样片2EL 测试 光照条件电池电性能测试如表1 所示。 表1 光照条件电池电性能测试 两片电池效率分别为11.06%和13.99%，Isc 分别为4.73A 和4.62A，均明显偏低；而此类正常电池片效率一般为17.5%左右，Isc 为5.3A 左右。 电池光诱导电流密度（LBIC Current）测试如图5 和6 所示。 图5 样片1 LBIC Current 测试 图6 样片2 LBIC Current 测试 然后，电池经过去SiN 膜、去正反电极、去铝背场和n 型层，再经碘酒钝化后，硅片少子寿命测试如图7 和8 所示。 电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？ 链接：/tech/72161.html 来源：阳光工匠光伏网 图7 样片1 少子寿命测试 图8 样片2 少子寿命测试 硅片少子寿命测试与电池光诱导电流密度（LBIC Current）测试和电池EL 测试具有很好的对应关系，说明造成电池效率低的原因为硅片本身内部缺陷所致，与电池工艺没有直接关系。 对硅片进行化学抛光和Wright 液腐蚀，样片2 呈现出明显的与EL 测试、电流密度（LBIC Current）测试和少子寿命测试相对应的图案形貌，如图9 所示。 图9 样片2 经化学腐蚀后图案形貌 样片1 的光学显微观察如图10 和11 所示，局部区域具有很高的位错密度达10E5~10E6 左右。样片2 的光学显微观察如图12 和13 所示，在如图9 所示的中心圆形图案形貌内，其位错密度均高达10E6~10E7 左右。黑斑边缘区域位错密度106 个/cm2 均为无位错单晶要求1000～10000 倍，这是相当大的位错密度。 电池片经EL测试局部较黑对组件会有什么影响？ 链接：/tech/72161.html 来源：阳光工匠光伏网 最后，对图9中，样片2所示的黑心内外做SIMS测试，测试结果如表2所示。SIMS测试结果显示，黑心内外各种杂质 含量正常。 表2样片2 SIMS测试 3.0出现黑芯或黑斑的原因 引