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朱務農 制程能力指數分析(CPK) 品保部QE 一、品質變異之原因 普通原因(Chance Causes) (又稱為機遇原因，不可避免之原因、非人為原因) 在正確的操作、制程中或檢驗時仍有很多原因使產品品質發生少許且規律 的變異，是造成隨著時間的推移具有穩定的且可重復的分布過程的許多變 變差的原因。 經常存且變異極為微小，對產品品質並無明顯之不良影響。 欲消除此項原因勢必花費甚巨而增加成本。 幾個較為代表性之機遇原因如下： 1.原料之微小變異 2.機器之微小振動 3.儀器測定時不十分精確之作法 一、品質變異之原因 特殊原因(Assignable Causes) (以稱為非機遇原因、可避免之原因、人為原因、異常原因） 在操作、制程中或檢驗時因異常而產生變異的原因，即當他們出現時將造 成（整個）過程的分布改變的原因。 不經常再現，一旦發生對產品品質即造成嚴懲問題； 應追究且需設法消除此項原因； 幾個較為代表性這機遇原因如下： 1.原料群體之不良； 2.機器調整錯誤； 3.未遵照操作標準作業； * 管制圖為區別此兩種原因之優良工具； 二、管制圖的原理 1920年，美國貝爾電話試驗所哈特(A’shewhart)博士的研究發現，在 生產過程中，如僅有機遇原因的變動時，任何產品之品質特性99.7％處於 常態分配圖的X-±3δ的界限范圍內，在X-±3δ范圍以外之點極少；當有非 機遇原因的變動時，產品之品質變異時往往超出X-±3δ之外。根據此原 理，他將常態分布圖作90°轉向，將X-±3δ的地方作為兩條控制線： 1.將平均值X作為管制中心線（Central Line簡稱CL)以實線表示; 2.將X+3δ作為管制圖上線(Upper Control Limit簡稱UCL),通常以虛線或紅線表示; 3.將X-3δ作為管制圖下線(Lower Control Limit簡稱LCL),通常以虛線或紅線表示; 這樣就形成了一個管制圖,將生產中的數據按照順序點入界限中，如果點子在管制圖 上下限之間變動，表示制品的品質及制造條件都正常，可以繼續生產：如果有一點 超出界外時，則表示出現了非機遇之原因而致使制品品質或制造條件發生變化，必 須採取對策，研究改善方法，使其恢復正常。 三、管制圖的種類 （1） 計量值管制圖 所謂計量值管制圖系，管制圖所依據之數據屬於由量具實際 量測而得，如長度、重量、成分等特性均為連續。 1.1 平均值與全距管制圖（X-R Chart） 1.2 平均值與標準差管制圖（X –δ Chart) 1.3 中位值與全距管制圖（X-R Chart) 三、管制圖的種類 （2）計數值管制圖 所謂計數值管制圖系管制均所依據均屬於以單位計數者，如不良數、 缺點數等間斷數據均屬之。 2.1不良率管制圖（P Chart） 2.2不良數管制圖（ Pn Chart) 2.3缺點數管制圖（C Chart) 2.4單位缺點數管制圖（U Chart） 四、X-R管制圖繪制 1.搜集100個以上數據，把2-6個（一般採4-5個）數據分為一組。依據定時 時間順序或群體順序排列。 2.把數據記入數據表。 3.計算各組平均值X。 4.計算各組的全距R。 四、X-R管制圖繪制 5.計算X總平均。 6.計算全距R平均。 7.計算管制界限： X管制圖：中心線CL=X 上限UCL=X+A2R 下限LCL=X-A2R R管制圖：中心線CL=R 上限UCL=D4R 下限LCL=D3R （A2 D4 D3 可查表） 8.繪管制界限，並將點點入圈中。 9.記入數據履歷及特殊原因，以備查考、分析、判斷。 五、控制圖上的信號解釋 有很多信號規則適用於所有的控制圖，主要最常見的規則有以下3種： 規則一：超出控制界限的點 五、控制圖上的信號解釋 規則二：連續7點在中心線一側： 五、控制圖上的信號解釋 規則二：連續7點在中心線一側： 五、控制圖上的信號解釋 規則二：連續7點呈上升或下降的趨勢： 五、控制圖上的信號解釋 規則二：連續7點呈上升或下降的趨勢： 五、控制圖上的信號解釋 規則三：明顯的非隨機圖形，多於2/3的點落在圖中1/3以外： 五、控制圖上的信號解釋 點分佈呈隨機狀態,無任何規則可循,多數點在中心附近： 六、管制圖之判讀 1. 非管制狀態： 1.1 點在管制界限的線外（或線上）。 1.2 點雖在管制界限內，但在中心線單側連續出現7點以上時，連續 7點依次上升或下降，這些點所連的圖（機率為0.8％） 1.3 明顯的非隨機圖形：點在中心線單側出現較多時/點接近界限 太多/點出現呈周期性變動/連續15點以上出現在±1δ間時/變 幅突然變大或變小. 六、管制圖之判