Ch8-3 X射线晶体学课件.pptVIP

x-射线是一种波长在 0.01 ~ 100 ? 的电磁波，位于紫外线和 γ 射线之间。 用于测定晶体结构的x-射线波长范围是 0.5-2.5 ?。 波长大于2.5 ?，晶体吸收太大 波长小于0.5 ?，衍射峰过分集中在小角度区 为方便、迅速查对PDF卡片，JCPDS编辑出版了多种PDF卡片检索手册： Hanawalt 无机物检查手册 Hanawalt 有机相检查手册 无机相字母索引 Fink无机索引 矿物检索手册等。 检索手册按检索方法可分为两类，一类以物质名称为索引(即字母索引)，另一类以 d 值数列为索引(即数值索引)。 以Hanawalt无机相数字索引为例。 其编排方法为：一个相一个条目，在索引中占一横行，其内容依次为按强度递减顺序排列的8条强线的晶面间距和相对强度值、化学式、卡片编号和参比强度值。条目示例如下： 芬克无机数值索引与哈那瓦特数值索引相类似，主要不同的是其以八强线条的d值循环排列，每种相在索引中可出现8次。 以物相英文名称字母顺序排列。每种相一个条目，占一横行。 条目的内容顺序为：物相英文名称、三强线d值与相对强度、卡片编号和参比强度号。条目示例如下： 1. 混合物相分析的方法是按上述基本步骤逐个确定其组成相。 2. 多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单叠加，这就带来了多相物质分析(与单相物质相比)的困难： 检索用的三强线不一定局于同一相，而且还可能发生一个相的某线条与另一相的某线条重叠的现象。 因此，多相物质定性分析时，需要将衍射线条轮番搭配、反复尝试，比较复杂费时，通常还需要一定的经验。 1. 实验条件影响衍射花样 1）在查核强度数据时，要注意样品实验条件与 PDF 卡片实验条件之异同。 2）在定性分析过程中以 d 值为主要依据，而相对强度仅作为参考依据。 3）在核查 d 值时，还应考虑到低角度衍射线的分辨率较低，因而测量误差比高角度线条大的情况等。 2. 在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物理性质及其历史等各方面的资料信息。 系统消光 Systematic absences 衍射强度与仪器条件、实验条件相关 X-ray 衍射强度与仪器条件、实验条件、制样情况均有关系。所以，x-ray 衍射实验常给出衍射强度的相对值：I/I1。 在物相定性分析过程中，衍射强度只作为辅助条件使用。 多晶粉末衍射法 X-ray 衍射分析方法： 照相法 多晶粉末衍射方法 衍射仪法 劳埃法 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪 在科学研究工作中，往往由于问题（或研究对象）的性质或技术的现状，要求我们用粉末法求解晶体的结构。如： 1）许多化合物得不到单晶样品。 2）只需要了解混合物的组成及其物相，不需要单晶。 3）研究的对象是混合材料，如高分散催化剂，不能用单晶法。 4）缺陷结构等，不能用单晶法。 5）微晶（如纳米）材料的性能用单晶结构数据不能完全解释。 多晶粉末衍射法 粉末衍射的 2θ 角 一粒粉末产生的某种衍射hkl，形成一条衍射线 样品中有大量粉末(~1012 粒/mm3)在空间随机取向，许多粉末的同一族平面点阵有同一级衍射，以相同θ角围绕着入射线. 这些密集的衍射线围成4θ衍射圆锥. 大量粉末的某一种衍射 hkl，形成一个衍射圆锥: 大量粉末的各种衍射， 相应地形成各个衍射圆锥 X-ray 粉末衍射仪 X-ray 粉末衍射仪是以特征 X-ray 照射粉末样品，并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。 由 X-ray 发生器、 X-ray 测角仪、辐射探测器和辐射探测电路 4 个基本部分组成，现代 X-ray 衍射仪还包括计算机控制系统。 此外， X-ray 多晶衍射仪还包括冷却水系统、高压系统、稳压器。 测角仪是X射线衍射仪的核心部分。 X射线测角仪 X-ray 多晶衍射实验采用多晶样品或粉末样品（即含许多不同取向的微晶组成）和单色的 X-ray 进行，称为X-ray 多晶衍射法，或粉末法，得到的衍