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66 数学教学研究 第28卷第 4期 2009年4月 两种特殊的温贮备系统的可靠性 程晓燕 西北师范大学 数学与信息科学学院．甘肃 兰州 摘 要：本文讨论了元件寿命服从 Makeham分布和Gompertz分布的温贮备系统的失效率函数 关键词 ：Makeham分布；Oompertz分布 ；LinearFailureRate分布 ；温贮备系统 中图分类号 ：O211．67 1 引言 系统的可靠性是现代社会 中人们普遍关注的问题．显然系统的可靠性取决于系统的结构 以及组成系统的各个元件的可靠性．贮备技术已成为提高系统可靠性的重要技术．元件的贮备 通常有冷贮备、热贮备和温贮备三种类型：冷贮备元件在贮备期间既不劣化也不失效，热贮备 元件在贮备期间自始至终都处于工作状态，而温贮备是介于这两者之间．很多学者对寿命为 指数分布的元件组成的贮备系统进行了系统的研究，并取得了一系列深刻的研究成果．读者可 参阅Aven(1990)，Birolini(1990)，Ebeling(1997)，Rausandandhq~yland(2004)，Ravichandran (1990)，SheandPecht(1992)以及 Vanderperre(2O04)等工作．Cha(2008)等人对温贮备系统 进行了模拟，得到了温储备系统的可靠函数． 基于Cha(2008)等人的工作，在本文中我们将进一步讨论服从两种不同分布的温贮备系 统的可靠性． 2 温贮备系统寿命分布的模拟 在温贮备系统中，备用元件一直在较为温和的环境下运行 ．一旦工作元件失效 ，备用元件 立即替代失效元件进入工作装态以确保系统的正常运行．因此模拟温备用元件的运行状况并 把温备用元件在替换时刻的年龄转换成正常运行环境下的年龄就显得尤为重要．加速寿命试 验 (AIT)被广泛应用于高可靠性长寿命元件的寿命检验．在 ALT中，实验元件要承受 比正常 工作环境更高的工作强度．有关ALT更详细的讨论可参阅Nelson(1990)和 Escobar(1993)． 受 ALT思想的启发 ，Cha等人 (2008)提出了下面的模型 ：设元件 C在正常工作环境和温 贮备状态下的寿命分别为X和X ，X和X 的分布函数分别为F()和Fdj(t)．显然 X≤ X．． (1) 于是存在一个单调递增的函数 ’，(￡)≤￡(f≥0)，使得 F ()一F(y(()))，≥0． (2) ． 假设温贮备元件在(o，]没有失效，并在时刻 “替代失效元件进人工作状态．不妨设贮备 元件在时刻 “的寿命为 ，从此刻M开始，贮备元件将进入正常的工作状态．注意到转入正常 环境以后元件的实际年龄 叱 要 比 “大，因此 ，元件的生存函数可以表示为 收稿 日期 ：2008—11—24 基金项 目：甘肃 自然科学基金资助项 目(ZS一011一A25—024一G)，甘肃省教育厅科研基金资助项 目(041—14) 作者简介：程晓燕 (1983一)，女，甘肃静宁人，硕士研究生．主要研究方向为应用概率统计和金融数学． 第 28卷第 4期 2009年 4月 数学教学研究 67 一exp{一』：r(c()十s)d)，t≥。． (3) 这里 由()满足面(“)≤M，V“≥0，面(0)一0，并假设它是一个单调递增 的函数．方程 (3)说明元 件在温和状态 (0，]下工作与在正常环境 (0，面(“)]下工作是一样的．而函数 面()表示 由温和 环境引起的推迟年龄过程 ． 3 系统运行的估计 设 X是温贮备元件在工作状态下的寿命 ，厂(￡)，F(￡)，F(￡)和 r(￡)分别是其密度 函数、累 积分布函数 、生存函数和失效率函数．类似地 ，Y，g(￡)，G(T)，G(￡)和 (￡)是工作元件