扩展学习课件6--张静武教授--高分辨像分析.pdfVIP

材料分析方法新进展 － TEM高分辨像 一、高分辨像的种类 二、非晶高分辨像 三、位错高分辨像 四、晶体缺陷高分辨像 五、相界面高分辨像 六、晶界高分辨像 七、表面高分辨像 八、结构像 结构像的分析 －超导氧化物RO3结构 结构像随离焦量和厚度的变化  Scherzer Defocus ­ 42 nm  n 离焦量 n 厚度 结构像的模拟 (Cs   0.5 mm ) 九、过滤像 十、原子象中的元素分辩- Z衬度象 HAADF （高角度环形暗场） （Al­Cu合金的G.P.区） 参考文献 n 材料物理现代研究方法 马如璋 n 材料评价的高分辨电子显微方法 进藤 大辅 n 材料评价的分析电子显微方法 进藤