现代材料分析测试考试总结.docVIP

现代材料分析测试考试重点总结 X射线产生的条件：(用某种方法得到一定量的自由电子； (使这些自由电子在一定方向上做高速运动； (在电子运动的轨迹上设置一个能急剧阻止其运动的障碍物。 连续谱：在不同管压下都存在的、曲线呈丘包状的X射线谱成为连续谱。 连续辐射：大量电子击靶所辐射出的X射线光量子的波长必然是按统计规律连续分布，覆盖着一个很大的波长范围，故这种辐射成为连续辐射。 特征辐射：波长值能够反映出原子序数特征，而与原子所处的物理、化学状态无关的辐射成为特征辐射。 特征X射线谱：因X射线强度峰的波长反映了物质的原子序数特征，所以叫特征X射线，由特征X射线构成的X射线谱称为特征X射线谱。 6、Kα线：K层电子逸出后，电子由L→K跃迁，辐射出来的是K系特征谱线中的Kα线。 7、Kβ线：K层电子逸出后，电子由M→K跃迁，辐射出来的是K系特征谱线中的Kβ线。 8、相干散射：X射线的散射中含有与入射线束波长一致的线束，此种波长不变的散射称为相干散射。 9、非相干散射：X射线的散射中出现了随散射角增大散射线束波长增大的现象，这种移向长波的散射称为非相干散射。 10、二次特征辐射：为区别于电子击靶时产生的特征辐射，称由X射线激发产生的特征辐射为二次特征辐射。 11、倒易点阵的定义：如果用a、b、c表示晶体点阵的基本矢量；用a*、b*、c*来表示倒易点阵的基本平移矢量。相对倒易点阵而言，把晶体点阵称为正点阵，则倒易点阵与正点阵的基本对应关系为：a* b=a* c=b* a=b* c=c* a=c* b=0; a* a=b* b=c* c=1。 12、倒易点阵的性质：(倒易矢量r*垂直于正点阵中的HKL面； (倒易矢量r*的长度等于HKL晶面间距dhkl的倒数 13、劳厄方程的优缺点及应用： 用途：解释了衍射现象；解决了衍射线的方向的问题；确定晶体结构。 优点：从本质上告诉我们如何获得衍射 缺点：用劳厄方程描述X射线对晶体的衍射现象时，入射线、衍射线与晶轴的六个夹角不易决定，用该方程组求点阵常数比较困难，使用不方便。 14、布拉格方程： ①导出公式：入射线LM照射到AA晶面后，反射线为MN；另一条平行的入射线L1M2照射到相邻的晶面BB后，反射线为M2N2，这两束X射线到达NN2处的波程差为： ②代表含义：反映了衍射射线方向（用θ描述）与晶体结构（用d表示）之间的关系。 （将便于测量的宏观量θ与微观d联系起来，通过θ的测定，在已知λ的情况下可以求d，或者在已知d的情况下求λ。） ③变形方程：2（d/n）sinθ=λ或者是：2d sinθ=λ。 15、劳厄方程与布拉格方程的一致性：（实质上就是衍射与反射一致性）：2dsinθ=nλ。 16、爱瓦尔德图球的画法： 17、爱瓦尔德图解的应用举例：劳厄法；周转晶体法；粉末法。 ⑴劳厄法：采用连续X射线垂直照射不动的单晶体，在垂直于入射线的底片上得到衍射斑点的实验方法。 ⑵周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，采用圆筒形底片包围处于圆筒轴线位置的晶体来记录，所得的衍射花样为层线。 ⑶粉末法：将单色X射线入射到粉末状的多晶体试样上的一种衍射方法。 18、一个原子的散射： 原子是由原子核及核外电子组成的。当一束X射线与一个电子相碰时，原子的所有电子将产生受迫振动而辐射电磁波，由于原子核中一个质子的质量是一个电子的质量的1840倍。因此，一个原子的散射强度也只有一个电子散射强度的。从而，在计算原子的散射时，可以忽略原子核对X射线的散射，而只考虑核外电子的散射X射线的结果。 为了评价原子对X射线的散射本领，引入系数?，称系数?为原子散射因子，他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的成果，表示在某个方向上原子的散射波振幅与一个电子波振幅比值，即：?= = 。 Aa—一个原子相干散射波的振幅；Ae——一个电子相干散射波的振幅。 结构因数公式：FHKL== = （4-12） 因衍射强度IHKL正比于|FHKL|的平方，故一个晶胞的散射波强度为：IHKL=Ie|FHKL|2 我们称|FHKL|2 为结构因数，他表征了晶胞内的原子种类、个数、位置对（HKL）晶面衍射方向上的衍射强度的影响。 结构因数公式的应用举例： ⑴、简单点阵：简单点阵中每个晶胞只含有一个原子，其坐标为000，原子散射因数为?，根据式（4—12）可得：FHKL=?[cos2π(0)+isin2π(0)]=?,结果表明，对简单点阵无论HKL取什么