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基于JTAGMBIST设计实现 　　摘要：边界扫描（BSD，有时也称为JTAG）和存储器内建自测试（MBIST）是两种常用的集成电路可测试设计技术，然而如何有效处理MBIST产生的众多管脚是DFT工程师必须考虑的问题。本文介绍JTAG和MBIST基本原理和设计方法，在此基础上提出了用JTAG控制MBIST的实现方法，解决了由MBIST引起的管脚复用问题。 　　关键词：DFT；JTAG；MBIST 　　 　　1引言 　　 　　随着数字集成电路复杂性不断提高规模不断扩大，完备的集成电路测试显得尤为重要，同时由测试引入的成本也在不断增加。然而残酷的市场竞争对成本提出了更加苛刻的要求，在满足测试的条件下如何降低由测试引起的成本是每一个研发人员必须面对的问题。在此背景下本文介绍一种基于边界扫描的内建自测试技术（BIST），既能完成BIST测试又不会因BIST测试而增加PAD的数量，从而避免了制造和封装成本的增加。 　　 　　2JTAG设计 　　 　　边界扫描是一种板级系统测试技术，它在集成电路的测试中也得到了广泛的应用。它在测试时不需要其他的测试设备，不仅可以测试芯片或PCB的逻辑功能，还可以测试集成电路之间和PCB之间的连线是否存在障碍。边界扫描技术的基本原理是在核心逻辑电路的每一个输入输出端增加一个寄存器，这些寄存器具有以下特点： 　　 （1） 每个寄存器都既可以输入数据，也可以输出数据； 　　 （2） 所有的寄存器可以连接成一个移位寄存器。 　　 一个系统中可以有多个扫描链，各个扫描链可以串联成一个扫描链，也可以并联起来。在一个PCB板上所有具有边界扫描的集成电路中的扫描寄存器可以连接成一个大的移位扫描链。 　　 根据IEEE 1149.1标准，JTAG设计的硬件结构如图1所示，由测试通道控制器（TAP Controller）、指令寄存器、旁路寄存器、测试数据寄存器组等几个部分组成。 　　 TAP Controller主要由一个有限状态机组成，用于控制指令寄存器和数据寄存器的操作，硬件接口包括5个引脚： 　　 1．TCK：移位时钟输入引脚。 　　 测试时钟是独立的，与芯片系统时钟无关，由测试系统提供。 　　 2．TMS：模式选择输入引脚。 　　 在测试过程中，有数据捕获、移位、暂停和输出??不同的工作模式。在不同的状态下，TMS信号为高点平或低电决定下一个时刻的状态。 　　 3．TDI：数据串行输入引脚。 　　 串行输入指令寄存器或测试数据寄存器的数据。输入指令或数据由TAP状态机控制。 　　 4．TDO：串行数据输出引脚。 　　 串行输出指令寄存器或测试数据寄存器的数据。 　　 5．TRST：异步复位信号。 　　 指令寄存器是一个带有锁存器的移位寄存器，在Shift_IR状态下，指令在TCK的上升沿串行移入指令寄存器，在Update_IR状态下，以并行方式将指令寄存器的内容移入指令锁存器。指令经过指令译码后产生控制边界扫描电路的各种信号。 　　旁路寄存器用于旁路整个芯片，当芯片的其他部分不需要测试时，TDI直接经旁路寄存器输出至TDO。 　　 测试数据寄存器用于保存操作数据，包括从访问单元中读出来的数据或向访问单元写入的数据。 　　 除IEEE 1149.1标准规定的指令外，JTAG可以实现用户自定义的指令，使用户可以根据不同需要扩展JTAG的功能。对JTAG指令和测试数据寄存器进行扩展，可以实现通过JTAG对芯片内部资源的访问和测试。对MBIST的控制既是JTAG功能扩展的应用之一。 　　 　　3MBIST设计 　　 　　内建自测试（BIST）是目前广泛应用的DFT技术，可用于随机逻辑器件和存储器件如RAM、ROM等测试，它将测试电路置于被测器件内部，通过外围配置实现器件的自动测试和故障诊断。下面将以RAM为例对嵌入式存储器的内建自测试技术（MBIST）的设计做简要介绍。MBIST电路包括控制器、比较器、collar三部分，如图2所示。MBIST针对不同的目标器件采用不同算法产生相应测试向量，并对输出相应进行比较，根据比较结果可判断被测器件失效与否。 　　 　　图1 　　MBIST控制器由状态机和向量产生器组成，状态机控制MBIST对存储器的读写操作，向量产生器可产生多种测试向量，不同的测试算法实现的电路所产生的测试向量内容也不同。常用的算法是March2算法，通过对同一地址读写/写读操作，遍历整个地址空间后完成存储器测试。March2算法通常对每一地址读写全0或全1，为增加故障的检测率改变March2 算法的起始值，既把存储器初值由h00…00改为h55…55。March2算法如图3所示： 　　 　　图2 　　1． 对所有存储地址由低到高写h55…