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太阳能发电原理及各制程制备原理
内容 太阳能电池原理 工艺流程 核心制程参数 非晶硅材料 光电效应 所有的物质均有原子组成,原子由原子核和围绕原子核旋转的电子组成.半导体材料在正常状态下,原子核和电子紧密结合(处于非导体状态),但是在光能刺激下,原子核和电子的结合力降低,电子摆脱原子核的束搏,成为自由电子. 光伏效应示意图 PN结 如果仅仅有电子对,而电子对没有形成一定的方向性,那么就无法得到光电流。 P/N结 PIN结 因为非晶硅材料属于短程有序,长程无序的晶体结构,对光载流子有很强的散射作用,导致载流子的扩散长度很短,使得光生载流子在太阳能电池中只有漂移运动而无扩散运动.因此,单纯的p-n结中,隧道电流往往占主导地位,使其呈电阻特性,而无整流特性。为此,要在p层于n层之间加入较厚的本征层i,以遏制其隧道电流,所以为了解决光生载流子由于扩散而很快复合,非晶硅薄膜太阳能电池一般设计成pin结构,其中p为入射光层,i为本征吸收层,n为基底层. A-si map 每层作用 P:P型半导体,掺杂B,主要用于收集空穴 PIB,P层和I层中的Buffer,过渡层渐少光致衰减效应(S-W 效应) I:本征层,在光照下产生光载流子 N+:I层和N层之间的过度层 N++:N型半导体,掺杂P,主要用于收集电子。 CVD 制程 主要制程参数: Substrate temp Gas flow Power Spacing Process pressure S-W效应 a-Si∶H薄膜经较长时间的强光照射或电流通过,在其内部将产生缺陷而使薄膜的使用性能下降,称为Steabler-Wronski效应。 S-W效应起因于光照导致在带隙中产生了新的悬挂键缺陷态(深能级),这种缺陷态会影响a-Si∶H薄膜材料的费米能级EF的位置,从而使电子的分布情况发生变化,进而一方面引起光学性能的变化,另一方面对电子的复合过程产生影响。这些缺陷态成为电子和空穴的额外复合中心,使得电子的俘获截面增大、寿命下降。 P层主要参数 RF Power 2900 Watt Spacing 640 mil Pressure 2500 mTorr Temperature outer 200 °C Temperature inner 195 °C SiH4 8850 sccm H2 42000 sccm TMB 9000 sccm CH4 8550 sccm P层反应化学式 P层各种气体功能 SiH4:主要气体,产生a-Si的主要成分 H2用来补足a-Si的氢键 CH4:用来提供C键,改变薄膜光电性质 TMB:对a-Si:H:C进行掺杂,使其成为a-Si:H:B:C PIB层主要参数 RF Power 1600 Watt Spacing 640 mil Pressure 3000 mTorr Temperature outer 200 °C Temperature inner 195 °C SiH4 4800 sccm H2 120000 sccm I层主要参数 RF Power 2550 Watt Spacing 640 mil Pressure 2500 mTorr Temperature outer 200 °C Temperature inner 195 °C SiH4 9000 sccm H2 112500 sccm I层反应化学式 N+层主要参数 RF Power 4500 Watt Spacing 640 mil Pressure 1500 mTorr Temperature outer 200 °C Temperature inner 195 °C SiH4 11950 sccm H2 56500 sccm 0.5%PH3 4000 sccm N层反应方程式 N++层主要参数 RF Power 3200 Watt Spacing 640 mil Pressure 1500 mTorr Temperature outer 200 °C Temperature inner 195 °C SiH4 3000 sccm H2 13500 sccm 0.5%PH3 9900 sccm 微晶硅 微晶硅其实是非晶硅的改良材料,其
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