第九篇 章 光学系统的像质评价 工程光学课件.pptVIP

第九章 光学系统的像质评价;;;;;1990年，美国圣荷塞IBM阿尔马登研究所D.M.Eigler等人在超真空环境中，用35个Xe原子排成IBM三个字母，每个字母高5nm，Xe原子间的最短距离为1nm，如图所示。;1992年又成功移动了吸附在Pt表面上的CO原子，1993年成功移动48颗Fe原子排列成圆形，实现原子操纵技术。 ;科学家把碳60分子每十个一组放在铜的表面组成了世界上最小的算盘。;中国科学院化学所的科技人员利用纳米加工技术在石墨表面通过搬迁碳原子而绘制出世界上最小的中国地图。 ;像差回顾;像质评价的阶段;评价方法;第一节 瑞利判断;球差曲线： 球差曲线纵坐标是孔径，横坐标是球差（色球差），使用这个曲线图，一要注意球差的大小，二要注意曲线的形状特别是代表几种色光的几条曲线之间的分开程度，如果单根曲线还可以，但是曲线间距离很大，说明系统的位置色差很严重。 ;轴外细光束像差曲线 这一般是由两个曲线图构成图中左边的是像散场曲曲线，右边的是畸变，不同颜色表示不同色光，T和S分别表示子午和弧矢量，同色的T和S间的距离表示像散的大小，纵坐标为视场，右图横坐标是场曲，左图是畸变的百分比值，左图中几种不同色曲线间距是放大色差值。 ;瑞利判断的特点;第二节 中心点亮度（斯托列尔准则）;第三节 分辨率;瑞利给出恰可分辨两个物点的判据：点物S1的艾里斑中心恰好与另一个点物S2的艾里斑边缘（第一衍射极小）相重合时，恰可分辨两物点。; 一个点物衍射图样的中央极大与近旁另一个点物衍射图样的第一极小重合，作为光学成像系统的分辨极限，认为此时系统恰好可以分辨开两个点物。称此分辨标准为瑞利判据。;ISO12233鉴别率板;投影鉴别率 左图是光学车间常用的投影鉴别率仪，使用时只要将被测镜头装夹好，将投影图调至最清晰就可以对各个方向上的分辨率进行判度，适用于大批量生产的光学检验，或调试使用。;第四节 点列图;分别表示给定的几个视场上不同光线与像面交点的分布情况。使用点列图，一要注意下方表格中的数值，值越小成像质量越好。二根据分布图形的形状也可了解系统的几何像差的影响，;点列图特点;第五节 传递函数;从而突出轮廓亮度 —— 形成亮的镶边。;MTF曲线图 图中不同色的曲线表示不同视场的复色光（白光）MTF曲线，T和S分别表示子午和弧矢方向，最上方黑色的曲线是衍射极限。横坐标是空间频率lp/mm，纵坐标是对比度，最大是1。曲线越高，表明成像质量越好。 ; 传函与离焦关系图 此图表明对设定空间频率不同视场的子午、弧矢MTF与离焦量的关系，图中横坐标是离焦量，纵坐标是对比度，通过此图可以看出各视场的最佳焦面是否比较一致，MTF是否对离焦比较敏感。此图在光学设计后期，精细校正时很有用。 ;MTF曲线的积分值评价成像质量;传函测量 ;MTF特点;第六节 其它方法;第七节 像差公差