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电容型试品介质损耗变化的原因与分析 2o01年第4期(总第l82期)电瓷避雷器 文章编号r1003—8337(2001)04—0007—06 电容型试品介质损耗变化的原因与分析 黎洪昌,叶振捷 (1广东南海电力局.广东广州528300;2.广东清远电力局,广东清远511500) 摘要:对电流互感器,电压互韪蓉和电容式套管等电容型试品在不同电压,不 同温度条件下一波对束屏介质损耗的试验结果进行1分析,根据tan8值变化情况可 以判断其绝缘缺陷. 关键词:电容型试品;介质损耗{试验 中图分类号:TM216一.5文献标识码:B l阿U舌 电力系统广泛地使用电容型结构的电力 设备如电流互感器,电容式套管,耦台电容器 和电容型电压互感器(CVT).该型试品交接 验收和预防性试验时应测量主绝缘(一次对 末屏)的电容量和介质损耗因数tan8r以 下简称介质损耗)阻判断其绝缘状况.由于条 件所限,现场试验电压为10kV,而出厂试验 电压可加到摄大相电压.一般情况,验收或预 试时tang变化很小.但我们在现场试验时亦 发现部分电容型电力设备其tan明显异于 出厂值.归纳起来有以下现象: (1)10kV试验电压下tan远大干出厂 值,且随试验电压升高tan8值基本不变.即 tan发生回升现象 (2)10kV电压下tan0远大于出厂值,当 试验电压增加时,tana值减少,在出厂试验 电匪下与出厂值基本楣近,邵tanS~f(UY明 显下降. (3)tan0与试验温度有明显关系,即温 度增加时tan值明显增加. 2tanh”值的回升现象 表1列出某供电局交接验收IB110型 电容式电流互感器的试验结果测量时一7欠 加电压,末屏接c,二次短接接地.交接试 验时问为出厂试验后三个多月 某供电局在出厂3～6个月进行验收时 发现60余只电容型套管tan8值均较出厂值 明显增大.表2中仅列出其中6只套管的试 验结果. 从表1,表2可以看出:验收试验时, tan随试验电压基本不变,但与出厂试验值 相比,明显增大验收试验时,电容量变 化很小,一般仅为3左右. 在验收表l中电流互感器的同时,还测 量了同类型某电瓷厂TCWB6llo电容型电 流互感器tan值,其试验结果如表3. 由表3可知,该型产品tand一,(f,)基 本不变且与出厂值相比无变化. 现电流互感器为例来分析表1～表3 的试验结果.测量时使用同一台电桥,从出 厂j验收经历了一段时问,tana值明显增加, 一 般称之为tan8的回升现象.这一现象是制 造厂生产时绝缘干燥不彻底所致. I.Bll10电容型电流互感器由6个电容 元件串联组成一次对末屏f运行中接地)的 主绝缘. 收稿日期:2OOl一04—04 作者简介:黎洪昌(1966j?男,广东阳春人,工程师,主要从事型电运行的研究与实践. 电瓷避雷器2001年第4期(总第182期) 表1LBI一110型试验结果 出厂试验交接试验 1okV73kV1okV60kV序号 Ctan占Ct丑n占Ct8n占Ctan占 (pF)()(pF)()(pF)()(口F)() 4904650.1344650.2344781.3004791.400 492446O.1464460.2384590.9004601.000 4944530.1364530.2324670.9004671.000 1.5004921.700 489457O.1274570.2254710.8O04710.9O0 注:试验时环境温度为30C 衰2电窖型套警C.殛tan6测量结果 出厂试验交接试验 1OkV.73kV]OkV.s0kV序号 Ctand~ct8nC扭nCtan~t (pF)()(pF)()(DF)()(pF)() 982163160.323170.343181.263191.28 982133090.253100.243121.173121.I8.333110.323101.Z931O1.3023322O.253191.083181.12 982403030.263040.283051.O93061.L2 982093050.283060.293071.16307L18 裹3LCWB6-110型试验结果 出厂试验交接试验 序号73L,V cJtanCtan30tarl~”Ctant~ (0Fj()(口FJ()(DF)()(口F)() 12969oo.198690020569O0.200690O.2o0 l26680O.31068OO,313680030068O0300 1286680.2106680.2126690.2006690.200 为 注:试验时环境温度为3o”C. 其等值电容G及介质捐耗tand分别 c一蕊1 CCC1.,.. 式中CI,c2…