小型质谱仪工作原理以及对传统方法的改进-复旦大学物理教学试验中心.PDF

小型质谱仪工作原理以及对传统方法的改进 夏磊 （复旦大学材料科学系 材料物理 0530050） 摘要：本文重点讨论了小型磁偏转质谱仪的工作原理，对学校里的仪器提出了自己的看 法和一些改进的意见，提出了用电子轰击离子源代替表面型离子源，使用频率可控的加速电 场以提高离子引出效率，两级聚焦提高分辨率的改进措施。 关键字：小型磁偏转质谱仪，电子轰击离子源，离子引出，两级聚焦 引言：从1931年汤姆孙制成第一台质谱仪到如今，质谱仪已经为人类在探索物质结构 方面立下了汗马功劳，质谱法是同位素测定，有机物分子结构测定及表面分析和深度分析等 方面的有力工具，是大学实验室标准仪器之一。 正文： 质谱仪工作的要义可概括如下： 即： 一般质谱仪是用下面的结构来实现打碎复原的功能： 即：样品分子在离子源中发生电离，生成不同质荷比（m/z）的带正电荷的离子，经加 速电场的作用形成离子束，进入质量分析器，在其中再利用电场和磁场使其发生色散、聚焦， 获得质谱图，从而确定不同离子的质量，若样品是有机物还可获得其分子式，提供其一级结 构的信息。 （一）进样系统 进样系统的目的是将分析样品在可重复的低气压下以气体形式引入离子源而且不能使 其真空度下降。根据待分析样品的不同状态选择不同的进样方式。高沸点样品（1700K 左右） 不高可采用间隙进样系统。样品可直接或加热成气态方式进入贮气球，系统处在低气压状态， 具有加热装置使样品保持气态，可以采用分子漏孔的方法，使贮气球中加热的样品通过小孔， 以分子流的方式渗透入离子源。也可以将样品配制成饱和溶液（若样品可溶），将其滴在钼 带上，吹干，用电流加热钼带使样品分解，并以原子形式发射到空间，从而在钼带附近形成 一定浓度的等离子态，这种方法离子源与进样系统合二为一，缺点是样品不容易控制，样品 的量少，信号弱，在实验过程中往往还没有得到质谱图样品就已经用完，所以不推进使用这 种方式。对于高沸点的样品可以采用直接探针进样，用探头直接将微克级以下的样品送入离 子源，并在数秒钟之内将探头加热，使样品汽化。[1] （二）离子源 离子源是将分子转化为离子的装置。对离子源的要求是：得到的离子流稳定性好，产额 高，聚焦系统好，记忆效应小，质量歧视效应小，工作压强范围宽，样品和离子的利用率高。 在我们的实验中选用的是表面电离型离子源，它提供离子源的产额不够高以致我们得到的谱 K41 图 峰普遍不明显（当然也有其他因素这里不详细分析），离子利用率不高，聚焦系统不 够完善，进行能谱分析离子源是关键，得不到符合标准的离子束，就得不到好的质谱图。现 在一般使用电子轰击电离源，示意图如下： 电子轰击离子源的原理可以表达成：    Me  M 2e  e 上式中告速电子 从样品分子M中撞出一个电子，成为分子离子。在电子轰击中，形成分 子离子需要很高的内能，从而使一些化学键断裂或引起重排，以瞬间速度裂解成多种碎片离 子（正离子），真空状态防止了碎片离子的相互碰撞结合成分子。 离子源与质量分析器之间还存在离子引出系统。但是我始终觉得我们的离子引出系统是 一个弱点，如果能提高离子引出的效率，那么质谱实验的图像将更加明显。在我们的离子源 中 由于等离子体屏蔽的存在, 限制离子引出时间, 降低了离子引出率。由于等离子体屏蔽的 存在, 致使电子引出时间并对引出离子能量进行控制可以提场不能穿透屏蔽层, 离子仅仅在 鞘层中可以被加速在此种情况下, 最大的离子流是饱和离子流, 由等离子体的密度和电子温 [2] 度决定 。尽管在静电场理论中, 离子流可以随着电压的增大而逐渐增大, 但是实验中需要 考虑装置的漏电和击穿等情况, 极板间电压不能无限制增加, 而且电压过大还会引起离子溅 射, 降低了离子收集效率。若能消除等离子体的屏蔽效应则必能大大增加离子引出效率。我 的想法是，将等离子体看成一等效阻抗，若外加频率控的电场是他的频率与等效阻抗产生共 振，这样是等离子体的阻抗最小，电场可以穿透等离子体，就提高了离子引出效率。 （三）质量分析器 即质量分离器，它将离子源中生成的正离子按质荷比的大小分