利用原子吸收光谱法监测重金属以符合RoHS与WEEE指令.PDFVIP

利用原子吸收光谱法监测重金属 以符合 RoHS 和 WEEE 指令的要求 应用简报 半导体分析和环境分析 作者 前言 John Sanders 旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已 经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限 制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在 电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计 测定六价铬 [3-4] ，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面， 也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测 定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪 器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通 过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。 仪器 元素 Cd Pb Cr 样品量 20 µL 20 µL 20 µL 所有石墨炉测量均采用配备 Agilent PSD 120 可编程进样器 体积减小倍数 2 2 2 的 Agilent 280Z 原子吸收光谱仪进行。 体积浓度 5.0 µg/L 50.0 µg/L 20.0 µg/L 大包装样品瓶数量 51 54 51 使用配备 VGA 76 氢化物发生附件的 Agilent 280FS AA 在 Duo 尾吹样品瓶数量 52 52 52 样品进样次数 1 1 1 模式下运行进行汞蒸气测量，而石墨炉分析采用 Agilent 样品最后的干燥步骤 1 1 1 280Z AA。 热进样 打开 打开 打开