神通广大的X射线粉末衍射(马礼敦)PPT.ppt

神通广大的X射线粉末衍射 与粉末衍射仪;一.X射线粉末衍射(XRD)的应用 二.X射线粉末衍射仪功能的开发拓展 1.非常规条件下的X射线粉末衍射 2.X射线粉末衍射仪用于非粉末衍射;一. X射线粉末衍射(XRD)的应用;X射线衍射为周期性结构造成的周期X射线散射源间的干涉。相消干涉时强度几乎会完全消去，相长干涉时会变得很强，称为X射线衍射 。 衍射方向服从布拉格公式 2dsinθ=nλ dHKL:(HKL)面族的面间距，θHKL:布拉格角， λ:入射X射线波长 ;*单晶体衍射获得的是衍射 点，数量多(数千至数十 万) 。 *用于晶体结构测定，单晶体定向或缺陷形貌测定。; ;4. X射线粉末衍射的主要用途;(1). 多晶聚集体结构的表征;1). 物相结构分析;□ （a）粉末衍射谱是物质的特征，独一无二。 （b）在混合物中每一个物质产生的衍射谱与其它物质无关，有指纹性。 ???c）各组分衍射谱的强度是正比于各组分的含量的，混合物的粉末衍射谱是各组成物相的粉末衍射谱的权重叠加。 (a)、(b)、为定性基础，(c)为定量基础 ● 物相定性分析方法：标准谱对比法;碎屑岩物相定性(扫描总时间:4分钟);测量谱;晶粒越小衍射线形就越宽 晶粒大小与衍射线宽的关系——谢乐公式 ? = K? / D cos?;实际衍射线形是多种因素影响的卷积 光源色散，仪器因素，样品结构因素 必需先对实测线形进行反卷积分去实验因素及其它各种结构因素造成的线宽，提取出纯的由待求因素造成的线宽，才能运用有关公式进行计算.;a).择优取向现象 多晶聚集体中晶粒取向的相对集中现象称为择优取向， b).择优取向的影响 使均匀的材料成为各向异性。这在一些情况下是不利于材料的使用的，而在有些情况下又是必需的。 ;c).择优取向材料的衍射特点 择优取向使粉末试样的衍射强度分布不均匀，与无择优取向时不同，这种分布状况形成的构造就称织构。可从衍射线强度的变化得出其织构。 ; d).织构的表示法 反极图：各个晶向在空间某一区域的集中情况 标记在单元标准投影图上 在各衍射的投影点上,标上有织构试样与无织构试样的相应衍射线的强度比值 ;正极图:某一晶向在空间的分布情况。 绘在极射赤平投影图上。 使用样品作三维旋转的织构台;三维取向分布函数(ODF); *硅钢片却需要造成001方向与硅钢片法线平行的织构 *高聚物一般是不良导体，如在有机玻璃中加入N，N-二甲基胺硝基二苯乙烯，然后将其加热到玻璃化温度Tg，再加一强磁场，则高聚物就会按极性定向排列，快速降温，这种极性的定向排列就会被冻结下来，造成择优取向，此时的高聚物就具有传导光产生的电荷的能力了。 ; *高温超导体YBa2Cu3O7-x的超导特性在(001)面。 *氮化钛镀膜的织构与性能关系 (111)面耐磨性好，镀膜时加在基体上的偏压愈负，(111)织构就越严重，耐磨性就越好 织构与颜色的关系：氮气分压对钛蒸发量比值加大；基体温度升高，颜色由淡黄经金黄向红黄转变，同步以(111)织构的减弱，(200)织构的增强;(2). 晶体结构与分子结构的测定;第一步：求解晶体结构的周期性和对称性，也即要正确求出晶体的晶胞参数、推断其可能的点群和空间群。由分析各衍射的θi间的关系得到。 2dsinθ=nλ ;第二步：求出各原子在晶胞中的位置坐标，占有率及温度因子等参数。 通过对各衍射的积分强度IHKL的分析求得的。 ;◎方法：Rietveld粉末衍射全谱拟合法。;[Co(NH3)5Cl]Cl2的晶体结构测定;[Co(NH3)5Cl]Cl2的原子坐标和温度因子 测量精修条件和R值;核心为Co—5N，Cl畸变八面体正离子。 另2Cl-原子位于八面体之间，通过静电引力结合八面体周期排列成晶体。 每个晶胞中含有4个分子。;(3).晶体内的微结构分析;微应力与微应变;微应变(微应力)ε与衍射线增宽β间的关系 〈ε2〉是均方根应变，与ε间的关系为; KAlF4中反相畴的研究;同时使用XPD和中子衍射的数据，保留宽化峰。 采用多种模型，反相畴模型成功解释了宽化峰。间隔一定距离，八面体向相反方向转动。;参考文献：;二.X射线粉末衍射仪功能的拓展;(1). 高、低温环境装置;HTK1200;(2). 原位反应测量装置;XRPD 流出气体 可做GC、 MS 、IR 等分析。;(3). 微区衍射装置;微区衍射装置;生物医疗材料Ti (FB4)的分析;摩擦环1：金红石