【地球课件】核分析在生命科学中的应用4——6.ppt

第四章 质子激发X荧光分析（PIXE）（Proton induced X-ray emission） 第一节 引 言 1、PIXE法发展简史 1912年，chadwick发现一定能量离子撞击物质时发射X射线的 现象。 1958年，Merzhacher 和Lewis提出用质子及α粒子对靶原子 的内壳层电离产生X射线的量子力学解释。 1965年， Khan等用带电离子产生X射线作为分析手段，测量 了薄膜的面密度。 1970年，Jchansson等用高能量分辨率的Si（Li）探测器及能 量为Mev的质子束轰击样品，实现了同时测定多个元素的分析。 1971年，Watson及1972年Flochini等开展了用α粒子作为激 发源的实验。 1973年，Garcia等用重离子作为激发源，实现了对原子序数 Z较大元素的微量分析。 2、PIXE基本原理 加速器产生的高能带电粒子轰击样品，如果入射粒子的能量 Ep大于被辐照元素的原子内层电子结合能，即EpEk，就可使内 层电子电离，是原子处于激发态。根据量子力学原理，激发态 原子不稳定，将遵照选择定则，产生一系列的电子跃迁（如L壳 层或M层的电子跃迁到K壳层），同时发射出元素的特征X射线光 量子。是原子从激发态回到基态。 第四章 质子激发X荧光分析（PIXE）（Proton induced X-ray emission） 特征X射线的能量E E=E1-E2=hν=hc/λ 式中E1、E2为跃迁初、终两极能量差；h为普朗克常数； ν为元素特征X射线的频率； λ为元素特征X射线的波长； c为光速。 ? 莫斯莱定律 （c/ λ）1/2=K1（Z-K2） K1、K2对于不同的谱线和线系均为常数，c为光速。 所以λ∝1/Z2 对于某一元素的特征X射线，它的波长与原子序数的平方成反 比。只要确定了X射线的波长，发射元素的原子序数就可知道。 PIXE是指用高能质子作为激发源，辐照样品，样品中原子受 激发，在退激过程中发射的X射线荧光实现仪器分析。通过仪器 分析获得两种信息：a、通过分析特征X射线的能量确定样品中 含有什么元素。B通过分析特征X射线的强度确定与这种特征X射 线对应的元素的含量。 探测X射线有：a、波长色散X射线荧光谱仪:由样品发射的X 射线荧光先在衍射晶体上按波长不同发生空间色散，一个探测 器一次只纪录一种波长。其特点是分辨率高，分析灵敏度好。 但要测定多种元素则非常费时。 b、能量色散X射线荧光谱仪：样品发射的X射线荧光直接进入 探测器，探测器输出与入射X射线能量成正比的电脉冲，通过多 道脉冲幅度分析以及可完成对入射X射线按能量分类的强度分析， 一个探测器一次纪录所有能量的X射线强度。特点是能量分辨率 不如前者，但可实现多元素同时分析。 第四章 质子激发X荧光分析（PIXE）（Proton induced X-ray emission） 3、PIXE法的优点 ? 分析浓度范围广，可以从0.005%到100% 。 ? 具有较高的分析灵敏度，探测极限在0.1—1μg/g ，它的最小可 探测量可达10-12 g 。 ? 用样量少，具有多元素分析能力，同时能测定30多种元素。 ? 可测定元素周期表上Z12的大多数元素。 ? 速度快（每小时可分析4—6件样品）。 第二节 质子激发X荧光的物理过程 1、电子截面 当能量为MeV的质子（或α粒子）撞击靶原子，原子内壳层（k） 的电子被激发后脱离靶原子，这个过程的几率称为电离截面，用σi 来表示，单位为靶（b）， σi随入射粒子能量的增加而增加，随靶 原子Z的增加而减少。不同能量入射质子的K层或L层的电离截面可 查表得。 ? 俄歇电子 靶原子再退激时还可能不发生特征X射线，而是把激 发能传递给外层电子。使其离开靶原子逃逸出来，形成发射电子， 此种电子称为俄歇电子。 第四章 质子激发X荧光分析（PIXE）（Proton induced X-ray emission 4.1 K层电子电离图 第四章 质子激发X荧光分析（PIXE）（Proton induced X-ray emission） 2、X射线产生截面 X射线产生截面也称为X射线发射截面。xбk=iбk Wk K 式中iбk 是K壳层的电离截面； Wk是荧光产额； K 是相对于X射线的跃迁几率。 xбk a 随入射粒子能量增大而增大（Z13） b 随靶原子序数（Z)的增大而减小。 xбk 可查表获得。 3、荧光产